مروری بر روش های کاهش خطای نرم در آرایه برچسب حافظه نهان

سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 616

فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICIKT10_018

تاریخ نمایه سازی: 5 بهمن 1398

چکیده مقاله:

فضای اشغال شده توسط حافظه نهان در واحدهای پردازشگر گرافیکی یا واحدهای پردازشگر مرکزی 2 شامل بخش بزرگی می شود که دائم مورد دسترسی قرار می گیرد. حافظه نهان از تعداد زیادی ترانزیستور تشکیل شده که با توجه به اندازه کوچک و ولتاژ کاری پایین به خطاهای گذرا حساس می باشند. واژگونی بیت های برچسب 4 حافظه نهان باعث ایجاد FalseHit می شوند. رویداد FalseHit علاوه بر شکست باعث خروجی نادرست برنامه خواهد شد. در این مقاله روش های کاهش خطای نرم در برچسب را مروری می کنیم.

نویسندگان

محمدجواد شهنوازی

دانشگاه شهید باهنر کرمان

مهدیه قزوینی

دانشگاه شهید باهنر کرمان

بهنام قوامی

دانشگاه شهید باهنر کرمان