مروری بر روش های کاهش خطای نرم در آرایه برچسب حافظه نهان
محل انتشار: دهمین کنفرانس فناوری اطلاعات و دانشIKT2019
سال انتشار: 1398
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 616
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICIKT10_018
تاریخ نمایه سازی: 5 بهمن 1398
چکیده مقاله:
فضای اشغال شده توسط حافظه نهان در واحدهای پردازشگر گرافیکی یا واحدهای پردازشگر مرکزی 2 شامل بخش بزرگی می شود که دائم مورد دسترسی قرار می گیرد. حافظه نهان از تعداد زیادی ترانزیستور تشکیل شده که با توجه به اندازه کوچک و ولتاژ کاری پایین به خطاهای گذرا حساس می باشند. واژگونی بیت های برچسب 4 حافظه نهان باعث ایجاد FalseHit می شوند. رویداد FalseHit علاوه بر شکست باعث خروجی نادرست برنامه خواهد شد. در این مقاله روش های کاهش خطای نرم در برچسب را مروری می کنیم.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمدجواد شهنوازی
دانشگاه شهید باهنر کرمان
مهدیه قزوینی
دانشگاه شهید باهنر کرمان
بهنام قوامی
دانشگاه شهید باهنر کرمان