شبیه سازی سیستم Duplex به کمک زنجیره های مارکوف

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 781

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

FROMIHE01_015

تاریخ نمایه سازی: 19 خرداد 1396

چکیده مقاله:

سیستم های چند پردازنده ای می توانند کارایی و قابلیت اطمینان و قابلیت دسترس ی بالاتر ی را نسبت به س یستم ها ی تک پردازنده ای فراهم آورند. جهت ارزیابی صحیح میزان کارایی سیستم های چند پردازنده ای، به معیارهایی نیاز است که کارایی وقابلیت اطمینان سیستم را با یکدیگر ترکیب نمایند . در این مقاله ، ایجاد تحمل پذیری خطا در سیستم های Duplex به عنوان نمونه ای از سیستم های کامپیوتری چندپردازنده ای در قالب زنجیره های مارکوف توضیح داده شده است. یک سیستم تحمل پذیر خطا ، سیستمی است که بتواند در حضور خرابی های سخت افزاری و خطاهای نرم افزاری ، وظایفی که برایش مشخص شده رابدرستی به انجام برساند. بدلیل کاربرد گسترده سیستم های کامپیوتری در زندگی بشر ،تحمل پذیری خطا بسیار مورد توجه قرار دارد

کلیدواژه ها:

زنجیره های مارکوف – سیستمDuplex-تحمل پذیری خطا- دسترس پذیری

نویسندگان

مهدی عزیزی

دانشجوی کارشناسی ارشد ,مهندسی کامپیوتر نرم افزار , دانشگاه غیرانتفاعی میرداماد گرگان ,ایران

محمدمهدی فتحی

دانشجوی کارشناسی ارشد ,مهندسی کامپیوتر نرم افزار , دانشگاه غیرانتفاعی میرداماد گرگان ,ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • /1/ هیگنز، ج . ج، مک نالتی، سالی کلر (1379) ...
  • A. Raoul Velazca and B. Pascal Fouillat, "Radiation Effects on ...
  • Transactions on Nuclear Science, , vol. 54, no. 6, pp. ...
  • A. P. K. Samudrala, and B. J. Ramos, "Selective Triple ...
  • _ _ on Nuclear Science vol. 51, no. 6, page(s): ...
  • A. Pratt, B. and B. Caffrey, M., "Fine-Grain SEU ...
  • Vol.: 55, Issue: 4, Part 1 On page(s): 2274- 2280, ...
  • _ _ _ Research in Microel ectron ics and ...
  • NASA-GSFC and SGT-Inc, December 2002. Error Correction Protected Memories", TRANSA ...
  • RELIABILIT, VOL. 58, NO. 1, MARCH 200, ...
  • Pedro Reviriego and Juan Antonio Maestro, "Reliability Analysis of Memories ...
  • ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY, VOL. 7, NO. 4, DECEMBER ...
  • _ Correction Codes on the ...
  • _ _ _ _ 1, MARCH 2009. ...
  • A. Israel Koren andB. C.Mani Kirishna, "Fault Tolerat Systems ", ...
  • R. Hentschke, F. Marques, F. Lima, L. Carro, A. Susi, ...
  • digital modules with Hamming code and triple modular redundancy ', ...
  • نمایش کامل مراجع