وقوع پدیده پس ماند در اندازه گیری غلظت املاح با دستگاه TDR و کپسول مکش

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,123

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

SSCI10_071

تاریخ نمایه سازی: 11 بهمن 1385

چکیده مقاله:

دستگاه TDR دارای استفاده وسیع در اندازهگیری رطوبت و هدایت الکتریکی ظاهری خاک (ECa) بوده و به ابزاری مؤثر و با ارزش در علوم خاک تبدیل گردیده است . این دستگاه اولین بار توسط وارد و همکاران (Ward et al., 1988) برای اندازهگیری غلظت املاح در محیطهای سه بعدی پیشنهاد گردید . دارای محاسن ویژه از جمله اندازهگیری توأمان رطوبت و غلظت املاح بدون تخریب ساختمان خاک است . لیکن واسنجی آن بخصوص برای اندازهگیری غلظت املاح در مقیاس بزرگ چندان ساده نیست . معمولا برای اندازهگیری غلظت املاح توسط TDR دو سری واسنجی برای پروبهای آن نیاز است تا بتوان ابتدا مقاومت ظاهری را به ECa و سپس در ادامه هدایت الکتریکی ظاهری را به هدایت الکتریکی آب خاک (ECw) مرتبط نمود . در این تحقیق نحوه واسنجی پروبهای TDR برای اندازهگیری غلظت املاح در لایسیمترهای بزرگ حاوی دو نمونه خاک لومی و لوم ماسهای دست نخورده بررسی و پدیده خاصی تحت عنوان پدیده پس ماند املاح که ممکن است هنگام واسنجی پروب های TDR برای اندازه گیری غلظت املاح اتفاق افتد، ارایه گردیده است . در دستگاه TDR ، مقاومت ظاهری (Z) با استفاده از رابطه ذیل به هدایت الکتریکی ظاهری خاک (ECa) تبدیل میشود (Topp et al., 1988)

نویسندگان

فریبرز عباسی

عضو هیات علمی ( استادیار ) موسسه تحقیقات فنی و مهندسی کشاورزی

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Abbasi, F. M. Javaux, M. Vanclooster, J. Feyen, G. Wyseure, ...
  • Topp, G. C., M. Yanuka, W. _ Zebchuck, and S. ...
  • Vogeler, I., B. E. Clothier, S. R. Green, D. R. ...
  • Ward, A. L., R. G. Kachanoski, A. P. VOn Bertoldi, ...
  • نمایش کامل مراجع