استفاده از تریز در سنجش و ارزیابی اختراع به عنوان یک دارایی فکری

سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,838

فایل این مقاله در 11 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IICM02_044

تاریخ نمایه سازی: 23 خرداد 1389

چکیده مقاله:

امروزه اهمیت ثبت نوآوری و اخذ پتنت با توجه به حمایت های قانونی آن برای مراکز تحقیقاتی و شرکتهای دانش بنیان روشن شده است با این حال به خاطر محدودیتهای مالی وقتی یک نوآوری قابل پتنت کردن باشد این سوال باید پرسیده شود که آیا بدست آمدن پتنت منفعتی برای مخترع یا شرکت مالک آن دارد؟ دراین تحقیق با اعمال روش تریز به عنوان یک روش شناسی حل مسئله به یکی از درخواستهای ثبت خارجی رسیده به دفتر انتقال فناوری شهرک علمی تحقیقاتی اصفهان سعی شده است که به پرسش فوق پاسخ داده شود.

کلیدواژه ها:

پیش بینی تکنولوژی ، ارزیابی اختراع ، تحلیل پتنت ، تریز

نویسندگان

کیوان اصغری

سرپرست دفتر انتقال فناوری شهرک علمی و تحقیقاتی اصفهان

پایان امینی

کارشناس دفتر انتقال فناوری شهرک علمی و تحقیقاتی اصفهان

حامد بهرامی

کارشناس دفتر انتقال فناوری شهرک علمی و تحقیقاتی اصفهان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Savransky, S. D., Wei, Tz-Chin, "TRIZ Analysis of US Patents ...
  • Lovelock, J. E., Lipsky, S. R., «Electron Affinity Spectro scopy--A ...
  • Savransky, S. D., "Engineering of Creativity: Introduction to TRIZ Methodology ...
  • M. A. de Carvalho, S. D. Savransky, Tz-Chin Wei, 121 ...
  • نمایش کامل مراجع