ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

مقایسه ی تأثیر برازش خطی و مرتبه ی دوم بهره در ساختارهای عرضی میدان در میکرومشدد نیم رسانا

سال انتشار: 1388
کد COI مقاله: ICOPTICP16_078
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 937
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله مقایسه ی تأثیر برازش خطی و مرتبه ی دوم بهره در ساختارهای عرضی میدان در میکرومشدد نیم رسانا

فاطمه قاسمی - پژوهشکده فیزیک کاربردی و ستاره شناسی، دانشگاه تبریز ، تبریز - ایران
رضا خردمند - پژوهشکده فیزیک کاربردی و ستاره شناسی، دانشگاه تبریز ، تبریز - ایران
اصغر عسگری - پژوهشکده فیزیک کاربردی و ستاره شناسی، دانشگاه تبریز ، تبریز - ایران

چکیده مقاله:

دراین مقاله برای لیزر نیم رسانای نشر کننده از سطح، بدون حذف بی درروی پلاریزاسیون و با استفاده از برازش مرتبه دوم منحنی بهره پارامتر ¦ مشخص شد در نتیجه معادله ی دینامیکی پلاریزاسیون اصلاح شد و به معادلات ماکسول - بلاخ اضافه گردید در ادامه با انتگرال گیری از این معادلات دینامیکی شبیه سازی های عددی انجام شدند. نتایج نشانگر شکل گیری الگوهای نوری خودبخودی و همچنین شاخه ی سولیتونی برای دمش بالای آستانه لیزرزائی است. این الگوهای نوری به دست آمده از برازش مرتبه دوم منحنی بهره نسبت به مشابه آن با استفاده از برازش خطی، ارائه دهنده ی افزایش در شدت با انرژی تزریق کمتری می باشند.

کلیدواژه ها:

آستانه لیزرزایی، سولیتون های کاواک، لیزر نشر کننده ی لبه ای، معادلات ماکسول - بلاخ

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا ICOPTICP16_078 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/73623/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
قاسمی، فاطمه و خردمند، رضا و عسگری، اصغر،1388،مقایسه ی تأثیر برازش خطی و مرتبه ی دوم بهره در ساختارهای عرضی میدان در میکرومشدد نیم رسانا،شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران،یزد،،،https://civilica.com/doc/73623

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1388، قاسمی، فاطمه؛ رضا خردمند و اصغر عسگری)
برای بار دوم به بعد: (1388، قاسمی؛ خردمند و عسگری)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • Barland. S et al, "Cavity solitons as pixels in semiconductor ...
  • _ Driven VCSEL ...
  • L. Spinelli et al, "Spatial solitons in semiconductor microcavities", Phys. ...
  • Ghasemi. F, Kheramand. R, _ Electrical field transverse struc- ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 19,882
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی