ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
عنوان
مقاله

اثر مدهای نقص برای قطبش TE در کریستال های فوتونیک یک بعدی

سال انتشار: 1394
کد COI مقاله: LPPS01_043
زبان مقاله: فارسیمشاهد این مقاله: 357
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 6 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله اثر مدهای نقص برای قطبش TE در کریستال های فوتونیک یک بعدی

علی زرگری - گروه مهندسی برق، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه گلستان، گرگان، ایران
یدالله هزار جریبی - گروه مهندسی برق، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه گلستان، گرگان، ایران
میثم کشیری - باشگاه پژوهشگران جوان و نخبگان واحد علی آباد کتول دانشگاه آزاد اسلامی علی آباد کتول ایران

چکیده مقاله:

در این مقاله، بلور فوتونی سه لایه ای یک بعدی نامتقارن با نقص در نظر گرفته شده و با محاسبه ضریب عبور با تغییر طول موج، تغییرات مد نقص بررسی شده است. مشاهده می شود که درون نوار گاف بلور فوتونی یک مد نقص وجود دارد. در قطبش TE با افزایش زاویه فرودی، مد نقص به سمت طول موج های کوتاه تر جابه جا می شود ارتفاع مد نقص تغییر زیادی نمی کند و همچنین با افزایش زاویه فرودی دو مد نقص در نوار گاف مشاهده می شود. همچنین مشاهده شد که با افزایش تعداد سلول های واحد، مکان مد نقص تغییری نمی کند و تنها تاثیر افزایش تعداد سلول های واحد به صورت باریک شدن شکل قله و افزایش تیزی لبه های نوار می باشد. به علاوه با افزایش ضریب شکست و ضخامت لایه ی نقص مدهای نقص به سمت طول موج های بزرگتر حرکت می کنند.

کلیدواژه ها:

مدهای نقص – قطبشTE– کریستال های فوتونیک

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/460917/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
زرگری، علی و هزار جریبی، یدالله و کشیری، میثم،1394،اثر مدهای نقص برای قطبش TE در کریستال های فوتونیک یک بعدی،کنفرانس ملی فناوریهای نوین نور، فتونیک و سیستمهای فتوولتاییک،علی آباد،،،https://civilica.com/doc/460917

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1394، زرگری، علی؛ یدالله هزار جریبی و میثم کشیری)
برای بار دوم به بعد: (1394، زرگری؛ هزار جریبی و کشیری)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود ممقالهقاله لینک شده اند :

  • Armemise Mario, N. "Phononic and photonic band gap structures: modeling ...
  • Naumov, A. N. And Zheltikov, A. M. "Termary one-dime nsional ...
  • Khem, B. Thapa, S. K. Singh and Ojha, S. P. ...
  • Srivastava, K. B. Thapa, S. Pati and S. P. Ojha. ...
  • Saleh, B. E. A. And Teich, ) C. "Fundamental of ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 1,912
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات پیشنهادی مرتبط

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی