طراحی معماری BIST جهت تست و مکان یابی خطا در LUTs در FPGAs بر پایه SRAM

امروزه آزمون قطعات دیجیتالی، از اهمیت خاصی برخوردار است. از این رو روش های زیادی، جهت تست خطا ارایه شده است. یکی از بهترین روش ها، خودتست کنندگی داخلی است. ما در این مقاله یک روش مقایسه ای جهت پیاده سازی این نوع آزمون، بر روی LUTsتراشه ی صنعتی FPGA ارایه داده ایم. جهت بررسی این روش، ما به کمک نرم افزار قدرتمند H_SPICE آزمون ارایه شده را بر روی LUTها با دقت 45 نانومتر پیاده سازی کردیم. از مزایای این روش می-توان به پوشش بالای خطا و کاهش هر گونه احتمال خطا اشاره کرد.

کلیدواژه ها:

FPGA ، خودآزمونگر داخلی ، BIST ، مقایسه کننده ، LUT