پیاده سازی مدار آزمون کننده ی درون مداری BIST از نوع BEST مدار مولد کدهای FFT یک بعدی به کمک زبان توصیف سخت افزاری VHDL

سال انتشار: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,415

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICEEE04_303

تاریخ نمایه سازی: 6 مهر 1391

چکیده مقاله:

جهت کاربرد مدارات دیجیتالی ابتدا باید از صحت عملکرد مدار اطمینان حاصل نمود، از آنجایی که بررسی صحت عملکرد اینگونه مدارات کاری پیچیده است، از آزمون کننده های درون مداری مختلفی استفاده می شود. در این مقاله، شرحی بر چگونگی پیاده سازی یک آزمون ک ننده ی درون مداری (BIST) از نوع BEST مدار مولد کد های FFT یک بعدی ارائه شده است. در این مقاله، پس از ارائه کلیاتی از چگونگی کار و نحوه ی عملکرد اینگونه مدارات، به توصیف و تشریح مدار مدنظر پرداخته شده است. به منظور پیاده سازی برنامه ی نوشته شده، از زبان توصیف سخت افزاری VHDL بهره گرفته شده است. برنامه ی یاد شده با توجه به بررسی های انجام شده در نرم افزار ISE شرکت Xilinx، قابلیت پیاده سازی بر روی FPGA نوع xa3s1500 بهره گرفته شده است. برنامه ی یاد شده با توجه به بررسی های انجام شده در نرم افزار ISE شرکت Xilinx ، قابلیت پیاده سازی بر روی FPGA نوع xa3s1500 و مدل های بالاتر را دارا می باشد. نتایج به دست آمده از بررسی برنامه ی نوشته شده، نشان دهنده ی تشخیص صحیحی درستی و یا خرابی مدار تحت آزمون است.

نویسندگان

مصطفی فتح اله پورشوشتری

گروه برق- دانشگاه شهید چمران اهواز

حمیدرضا عابدی

گروه برق- دانشگاه شهید چمران اهواز

یوسف صیفی کاویان

گروه برق- دانشگاه شهید چمران اهواز

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • [] مقداد محمدی، یوسف صیفی کاویان، سیده مرضیه اشرفیان، "پیاده‌سازی ...
  • Zainalabedin Navabi _ "Digital System Test and Testable Design", 1st ...
  • Taweesak Reungpeerakul, Douglas Kay, Samiha Mourad, _ _ Partial -Matching ...
  • N.C.Sendhil Kumar, "BIST-Based Group Testing for Diagnosis of Embedded FPGA ...
  • Petru CASCAV AL, Radu SILION, and Doina CASCAV AL, "A ...
  • D. Appello, P. Bernardi, A. Fudoli, M. Rebaudengo, M. Sonza ...
  • Andrew B. Kahng, and Sherief Reda, "New and Improved BIST ...
  • Design of Integrated Circuits and Systems, Vol. 25, No. 3, ...
  • Charles E. Stroud, Keshia N. Leach, and Thomas A. Slaughter, ...
  • Doshi N. A., Dhobale S. B., and Kakade S. R., ...
  • Xiangxue Li, Dong Zheng, and Kefei Chen, "LFSR-Based Signatures with ...
  • نمایش کامل مراجع