تهیه ی لایه های نازک اپتیکی نانومتری و اندازه گیری ضخامت آن ها به روش تداخل سنجی مایکلسون
محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 4,570
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP15_105
تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387
چکیده مقاله:
به تهیه لایه های اپتیکی نانومتری شفاف و غیر شفاف پرداختیم دستگاه مورد استفاده قادر به اندازه گیری ضخامت به صورت بلادرنگ با کریستال کوارتز می باشد که جهت زینه بندی کردن آن به اندازه گیری ضخامت لایه ها به روش اپتیکی نیز پرداخته شد لایه های با ضخامت nm30 به صورت پله بر روی زیر لایه شیشه قرار داده شد پله تشکیل شده در مکان یکی از آیینه های تداخل سنج مایکلسون نصب شد و با ثبت جابجایی نقش فرانژهای ایجاد شده بر روی CCD و اندازه گیری جابجایی فرانژها ضخامت پله تشکیل شده بدست آمد که در توافق خوبی با داده ناشی از بلور می باشد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
زهره خسروی
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
حمید رضا فلاح
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ، گروه پژوهشی اپتیک کوانتو
حامد مدایم زاده
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
محمد جواد وحید
گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :