زهره خسروی - گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
حمید رضا فلاح - گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ، گروه پژوهشی اپتیک کوانتو
حامد مدایم زاده - گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،
محمد جواد وحید - گروه فیزیک ، دانشکده علوم ، دانشگاه اصفهان ،

به تهیه لایه های اپتیکی نانومتری شفاف و غیر شفاف پرداختیم دستگاه مورد استفاده قادر به اندازه گیری ضخامت به صورت بلادرنگ با کریستال کوارتز می باشد که جهت زینه بندی کردن آن به اندازه گیری ضخامت لایه ها به روش اپتیکی نیز پرداخته شد لایه های با ضخامت nm30 به صورت پله بر روی زیر لایه شیشه قرار داده شد پله تشکیل شده در مکان یکی از آیینه های تداخل سنج مایکلسون نصب شد و با ثبت جابجایی نقش فرانژهای ایجاد شده بر روی CCD و اندازه گیری جابجایی فرانژها ضخامت پله تشکیل شده بدست آمد که در توافق خوبی با داده ناشی از بلور می باشد

تداخل سنجی ، ضخامت سنجی ، لایه نازک ،