تصحیح ناپایداری در ترانزیستورهای اثر میدانی حساس به یون هیدروژن از طریق بهینهسازی بار الکتریکی ذخیره شده در نیمرسانا
سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 565
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
DCEAEM02_086
تاریخ نمایه سازی: 30 بهمن 1394
چکیده مقاله:
مدل فیزیکی برای ناپایداری درترانزیستورهای اثرمیدانی انتخاب کننده یون حساس به )pH-ISFET( Ph ارایه شده است در pH-ISFETناپایداری درنقطه کار که عموما به دریفت موسوم است بصورت تغییرات یکسویه و نسبتا کندی درولتاژ استانه ت رانزیستور درغیاب نوسانات ph ظاهر میشود مدل ارایه شده بصورت کمی رفتار دریفت را درAl2O با عایق ازنوع اکسیدالومینیوم Al2O3 توضیح میدهد برای راستی آزمایی این مدل داد های اندازه گیری شده دریفت برای یک pH-ISFET که درآن عایق حساس به PH ازجنس Al2O3 است باداده های محاسبه شده براساس رابطه بدست آمده برای دریفت مقایسه شده اند برازش میان داده های اندازه گیری شده و داده های مدل با ضریب های همبستگی بزرگتر از0//99 مشخص میشود باتوجه به دقت کمی بالای مدل پیشنهادی میتوان بااستفاده ازرابطهدریفت راهکارهایی برای تصحیح ناپایداری درpH-ISFET پیشنهاد کرد بطور مشخص با کنترل انواع بارالکریکی ذخیره شده درنیمرسانا که دررابطه دریفت بیان شده اند میتوان دریفت را ازطریق اعمال بایاس مناسب به قطعه و یا استفاده ازکاشت () درناحیه کانال برای تنظیم ولتاژ استانه کاهش داد
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمدنبی زند
دانشجوی کارشناسی ارشد دانشگاه آزاد اسلامی واحدساوه گروه مهندسی برق ساوه ایران
شهریار جاماسب
نویسنده مسئول استادیار دانشگاه صنعتی همدان دانشکده مهندسی پزشکی همدان ایران
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :