اهمیت روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی در بررسی نانو مواد مغناطیسی و مقایسه آن با روش های میکروسکوپ الکترونی
سال انتشار: 1399
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 791
فایل این مقاله در 11 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
SDNCONF04_015
تاریخ نمایه سازی: 15 اردیبهشت 1400
چکیده مقاله:
در سال های اخیر، نانو مواد مغناطیسی به دلیل ویژگی های مغناطیسی منحصر به فرد کاربرد های متنوعی در زمینه هایگوناگون پیدا کرده اند. روش های مختلفی برای بررسی و مطالعه نانو مواد مغناطیسی وجود دارد. از جمله این روش ها میتوان به روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی اشاره کرد. میکروسکوپ نیروی مغناطیسی از جمله روش های میکروسکوپیپروب روبشی بر پایه میکروسکوپ نیروی اتمی در بررسی توپوگرافی و ویژگی های روی سطح مواد مغناطیسی در مقیاس نانومی باشد. در این مقاله، اهمیت روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی در بررسی مواد مغناطیسی، اصول عملکرد میکروسکوپ،حالت های کاری و کاربردهای آن در حوزه های مختلف مورد بحث و مطالعه قرار گرفته شده است. همچنین مزایا و محدویتهای این روش در مقایسه با روش های میکروسکوپ الکترونی مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروسکوپ الکترونیعبوری مورد ارزیابی قرار گرفت. یافته های بدست آمده در این مقاله نشان می دهد میکروسکوپ نیروی مغناطیسی روشمناسب تری در بررسی خواص نانو مواد مغناطیسی می باشد. به علاوه، به موجب حساسیت بالاتر روش دینامیکی میکروسکوپنیروی مغناطیسی نسبت به حالت استاتیکی آن می توان تصاویر مطلوب تری از سطح نمونه مغناطیسی تهیه کرد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
پورهندوی عبدالربی عاطف
گروه فیزیک دانشگاه ننگرهار افغانستان
پوهنیار بشیراله صافی
دانشجوی کارشناسی ارشد رشته فیزیک گرایش نانو دانشگاه لرستان