CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

اهمیت روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی در بررسی نانو مواد مغناطیسی و مقایسه آن با روش های میکروسکوپ الکترونی

عنوان مقاله: اهمیت روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی در بررسی نانو مواد مغناطیسی و مقایسه آن با روش های میکروسکوپ الکترونی
شناسه ملی مقاله: SDNCONF04_015
منتشر شده در چهارمین کنفرانس بین المللی علوم و توسعه فناوری نانو در سال 1399
مشخصات نویسندگان مقاله:

پورهندوی عبدالربی عاطف - گروه فیزیک دانشگاه ننگرهار افغانستان
پوهنیار بشیراله صافی - دانشجوی کارشناسی ارشد رشته فیزیک گرایش نانو دانشگاه لرستان

خلاصه مقاله:
در سال های اخیر، نانو مواد مغناطیسی به دلیل ویژگی های مغناطیسی منحصر به فرد کاربرد های متنوعی در زمینه هایگوناگون پیدا کرده اند. روش های مختلفی برای بررسی و مطالعه نانو مواد مغناطیسی وجود دارد. از جمله این روش ها میتوان به روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی اشاره کرد. میکروسکوپ نیروی مغناطیسی از جمله روش های میکروسکوپیپروب روبشی بر پایه میکروسکوپ نیروی اتمی در بررسی توپوگرافی و ویژگی های روی سطح مواد مغناطیسی در مقیاس نانومی باشد. در این مقاله، اهمیت روش میکروسکوپ نیروی مغناطیسی در بررسی مواد مغناطیسی، اصول عملکرد میکروسکوپ،حالت های کاری و کاربردهای آن در حوزه های مختلف مورد بحث و مطالعه قرار گرفته شده است. همچنین مزایا و محدویتهای این روش در مقایسه با روش های میکروسکوپ الکترونی مانند میکروسکوپ الکترونی روبشی و میکروسکوپ الکترونیعبوری مورد ارزیابی قرار گرفت. یافته های بدست آمده در این مقاله نشان می دهد میکروسکوپ نیروی مغناطیسی روشمناسب تری در بررسی خواص نانو مواد مغناطیسی می باشد. به علاوه، به موجب حساسیت بالاتر روش دینامیکی میکروسکوپنیروی مغناطیسی نسبت به حالت استاتیکی آن می توان تصاویر مطلوب تری از سطح نمونه مغناطیسی تهیه کرد.

کلمات کلیدی:
نانو مواد مغناطیسی، میکروسکوپ، نیروی مغناطیسی، روبشی، عبوری

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/1196859/