بررسی و بهبود اثر بی ثباتی دمایی تحت بایاس بر تمام جمع کننده های هیبریدی

در این مقاله یک تکنیک پیشنهادی جهت بهبود بی ثباتی دمایی تحت بایاس ( Bias Temperature Instability ) بر روی تمام جمع کننده های هیبریدی پیشنهاد شده است. هدف از این تکنیک کاهش تغییرات تاخیر رقم نقلی طی گذر زمان می باشد. در جمع کننده ها سرعت انتقال رقم نقلی از اهمیت بالایی برخوردار است. جهت بهبود مدارات در برابر سال خوردگی و تغییرات تاخیر از روش چند ولتاژ آستانه استفاده شده است. این تکنیک بر روی شش مدار جمع کننده با توپولوژی مختلف در فناوری 14 نانومتر FinFET توسط نرم افزار Hspice مورد مقایسه و ارزیابی قرار گرفته است. با به کارگیری این روش می توان تغییرات تاخیر را تا 8 / 33 درصد کاهش داد.

کلیدواژه ها:

سلول تمام جمع کننده ، NBTI ، PBTI ، تاخیر ، سالخوردگی