سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 492

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_ELEMAG-4-3_001

تاریخ نمایه سازی: 23 مرداد 1398

چکیده مقاله طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C

چکیده: تعیین خصوصیات ماده با استفاده از موجبر مستطیلی نیازمند یک قاب نگهدارنده نمونه و یک روش پیچیده جهت آماده­سازی نمونه می­باشد. در این مقاله با تغییراتی در روش معمول موجبری برای اندازه­گیری ضریب گذردهی الکتریکی و حذف  قاب نگهدارنده، نشان داده می­شود که روش معمول کالبیراسیون TRL­ و الگوریتم NRW  برای به­دست­آوردن ثابت دی­الکتریک و تانژانت تلفات با شرایطی قابل استفاده می باشد. در ادامه، این روش برای اندازه­گیری­های باند C برای مواد مختلف شبیه­سازی و سپس پیاده­سازی شده است. برای مواد با ضخامت کم دقت روش بهتر می­باشد و تا ضخامت  35/0 (طول موج در ماده تحت اندازه­گیری) نتایج مناسب می­باشد. میزان خطای اندازه­گیری­شده در این روش برای نمونه زیرلایه با ثابت دی­الکتریک 3 و ضحامت mm 5/1 در حالت شبیه­سازی تمام موج کمتر از 8 % و در اندازه­گیری قسمت حقیقی ثابت دی­الکتریک کمتر از 15 % به­دست آمده است.

کلیدواژه های طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C:

نویسندگان مقاله طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C

فرید نظری

صنعتی خواجه نصیر طوسی

هادی علی اکبریان

صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی

سهیل رادیوم

پژوهشگاه فضایی ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
D. J. Kozakofi, Analysis of Radome Enclosed Antennas, Artech House, ...
S. Li, C. Akyel, and R. G. Bosisio, Precise calculations ...
A. Rashidian, M. T. Aligodarz, and D. M. Klymyshyn, Dielectric ...
S. Bakhtiari, S. Ganchev, and R. Zoughi, Open-ended rectangular waveguide ...
S. K. Ng et al., An Automated Microwave Waveguide Measurement ...
V. H. Nguyen et al., Measurement of complex permittivity by ...
N. Chen et al., Development of a temperature dependent dielectric ...
Z. Qiu, X. Li, and W. Jiang, On stability of ...
Application Note, Agilent Basics of Measuring the Dielectric Properties of ...
J. Krupka, Frequency domain complex permittivity measurements at microwave frequencies, ...
Applying the HP 8510 TRL calibration for noncoaxial measurements,  Product ...
K. C. Yaw, Measurement of Dielectric Material Properties, Singapore: Rohde ...
نمایش کامل مراجع