طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C

سال انتشار: 1395
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 425

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

JR_ELEMAG-4-3_001

تاریخ نمایه سازی: 23 مرداد 1398

چکیده مقاله:

چکیده: تعیین خصوصیات ماده با استفاده از موجبر مستطیلی نیازمند یک قاب نگهدارنده نمونه و یک روش پیچیده جهت آماده­سازی نمونه می­باشد. در این مقاله با تغییراتی در روش معمول موجبری برای اندازه­گیری ضریب گذردهی الکتریکی و حذف  قاب نگهدارنده، نشان داده می­شود که روش معمول کالبیراسیون TRL­ و الگوریتم NRW  برای به­دست­آوردن ثابت دی­الکتریک و تانژانت تلفات با شرایطی قابل استفاده می باشد. در ادامه، این روش برای اندازه­گیری­های باند C برای مواد مختلف شبیه­سازی و سپس پیاده­سازی شده است. برای مواد با ضخامت کم دقت روش بهتر می­باشد و تا ضخامت  35/0 (طول موج در ماده تحت اندازه­گیری) نتایج مناسب می­باشد. میزان خطای اندازه­گیری­شده در این روش برای نمونه زیرلایه با ثابت دی­الکتریک 3 و ضحامت mm 5/1 در حالت شبیه­سازی تمام موج کمتر از 8 % و در اندازه­گیری قسمت حقیقی ثابت دی­الکتریک کمتر از 15 % به­دست آمده است.

کلیدواژه ها:

نویسندگان

فرید نظری

صنعتی خواجه نصیر طوسی

هادی علی اکبریان

صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی

سهیل رادیوم

پژوهشگاه فضایی ایران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • D. J. Kozakofi, Analysis of Radome Enclosed Antennas, Artech House, ...
  • S. Li, C. Akyel, and R. G. Bosisio, Precise calculations ...
  • A. Rashidian, M. T. Aligodarz, and D. M. Klymyshyn, Dielectric ...
  • S. Bakhtiari, S. Ganchev, and R. Zoughi, Open-ended rectangular waveguide ...
  • S. K. Ng et al., An Automated Microwave Waveguide Measurement ...
  • V. H. Nguyen et al., Measurement of complex permittivity by ...
  • N. Chen et al., Development of a temperature dependent dielectric ...
  • Z. Qiu, X. Li, and W. Jiang, On stability of ...
  • Application Note, Agilent Basics of Measuring the Dielectric Properties of ...
  • J. Krupka, Frequency domain complex permittivity measurements at microwave frequencies, ...
  • Applying the HP 8510 TRL calibration for noncoaxial measurements,  Product ...
  • K. C. Yaw, Measurement of Dielectric Material Properties, Singapore: Rohde ...
  • نمایش کامل مراجع