Modeling and control of atomic force microscope for imaging using neural network
محل انتشار: هفدهمین کنفرانس سالانه مهندسی مکانیک
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 1,430
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISME17_693
تاریخ نمایه سازی: 20 فروردین 1389
چکیده مقاله:
Atomic force microscope (AFM) can provide topograhic images of surfaces. Control the vibration behavior of the AFM and make the probe tip track a certain trajectory is important to appropriately scanning.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
h babahosseini
MSc stuent mechanical eng
s.m yazdian
MSC student of mechanical eng
h sayyaadi
associated professor
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :