بررسی اثر ضخامت در لایه های نازک IZO ساخته شده به روش سل - ژل
محل انتشار: دومین همایش ملی نانو مواد ونانوتکنولوژی
سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,047
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NAYRC02_028
تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1388
چکیده مقاله:
هدف از این پژوهش بررسی خواص الکتریکی ، اپتیکی و ساختاری لایه های نازک اکسید روی آلاییده با ناخالصی ایندیوم است. برای ساخت لایه ها، از روش سل - ژل و لایه نشانی به کمک دستگاه چرخشی استفاده شد. برای بررسی اثر ضخامت یک گروه نمونه تهیه شد. نتایج این تحقیق متوسط شفافیت برای نمون ها را بالای 90% مشخص می کند نکته قابل توجه این که در هیچ یک از نمونه ها شفافیت پایین تر از 70% مشاهده نشد. با افزایش ضخامت لایه ها، از میزان عبور نور در ناحیه مرئی کاسته شده است همچنین در ابتدا با افزایش ضخامت لایه، مقاومت الکتریکی کاهش و سپس افزایش می یابد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
نیکی حسینی مقدم
دانشگاه امام رضا(ع)، فیزیک، کارشناس ارشد
محمود رضایی رکن آبادی
دانشگاه فردوسی مشهد دکتری فیزیک استادیار
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :