تسریع در متدهای آزمون مدارهای دیجیتال با جایگزینی شاخص پوشش

سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 441

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICELE03_369

تاریخ نمایه سازی: 18 اسفند 1397

چکیده مقاله:

شبیه سازی اشکال و محاسبه شاخص پوشش اشکال در بسیاری از متدهای آزمون مدارهای دیجیتال مانند روش هایتولید بردار آزمون، روش های ارزیابی بردارهای آزمون، روشهای ارزیابی آزمون پذیری مدارهای دیجیتال، و روش های عیب-یابی مدارهای دیجیتال مورد استفاده قرار می گیرد. روشهای معمول برای محاسبه پوشش اشکال، بسیار کند و زمانبر بودهو یک گلوگاه جدی در روشهای آزمون مدارهای دیجیتال محسوب میشوند. در این مقاله یک معیار جایگزین در سیستممحاسباتی احتمالی، به نام شاخص شایستگی به عنوان یک جایگزین مناسب برای معیار پوشش اشکال پیشنهاد شده است.ضریب همبستگی بین شاخص شایستگی و پوشش اشکال برای تعدادی مدار محک از مجموعه مدارهای محک ISCAS85محاسبه شده و نتایج محاسبات، همبستگی قوی بین این دو شاخص را نشان میدهد.

نویسندگان

مهتاب فولادی

دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران

آرزو کامران

دانشگاه رازی، کرمانشاه، ایران