مهندسی گاف انرژی نانوسیم کربنی اشباع شده و مطالعه تاثیرات آلاییدگی با مولکول آمونیاک به کمک محاسبات آغازین
محل انتشار: مجله پژوهش فیزیک ایران، دوره: 18، شماره: 2
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 406
فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_PSI-18-2_015
تاریخ نمایه سازی: 30 دی 1397
چکیده مقاله:
در این مقاله تاثیرات اندازه و جهت گیری رشد و همچنین تاثیر آلاییدگی با مولکول آمونیاک (NH3)، بر خواص الکترونی نانوسیم کربنی با ساختار الماسی اشباع شده با هیدروژن (DNw:H) بررسی شده است. این بررسی به روش نظریه تابعی چگالی (DFT) و حل معادله کوهن- شم با رهیافت میدان خودسازگار (SCF ) و با در نظر گرفتن تقریب چگالی موضعی (LDA) انجام گرفت. مورفولوژی نانوسیمها از نوع استوانهای با جهت گیری رشد (111) و سطح جانبی آنها توسط اتمهای هیدروژن، اشباع شده است. نتایج محاسبات نشان میدهد گاف نواری این نانوسیمها به علت بالا بودن نسبت سطح به حجم و به وجود آمدن ترازهای سطحی، از گاف الماس انبوه ه، کوچکتر است. نتایج محاسبات ناشی از آلاییدگی مولکول آمونیاک با یکی از اتمهای کربن سطح جانبی نانوسیم الماس اشباع شده با هیدروژن در جهت (100)، منجر به کاهش گاف نواری شد؛ به گونهای که نانوسیم به یک نیمه رسانای نوع n تبدیل شد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فرح مرصوصی
گروه فیزیک دانشگاه صنعتی امیرکبیر
سیدمصطفی منوری
گروه فیزیک دانشگاه صنعتی امیرکبیر