اثرات کانال کوتاه در ترانزیستورهای اثر میدان فلز – اکسید – نیم رسانا

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 996

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NCNIEE06_142

تاریخ نمایه سازی: 1 مرداد 1397

چکیده مقاله:

از زمانی که اولین ترانزیستورهای اثر میدان فلز – اکسید – نیم رسانا در سال 1960 با موفقیت ارایه شدند، به منظور تامین تقاضای روزافزون برای سرعت بالاتر، ابعاد کوچکتر و ارزانتر، تاکنون تلاش های زیادی انجام شده است. کوچک سازی ابعاد ترانزیستورها، بدون تغییر اساسی در ساختار آن ها، با محدودیت ها و مشکلاتی همراه بوده است. از جمله این موارد می توان به اثرات کانال کوتاه، جریان تونل زنی گیت، شکست دی الکتریک و اثرات حامل های داغ اشاره نمود. در این مقاله در ابتدا به بررسی ترانزیستورهای اثر میدان فلز – اکسید – نیم رسانا و دلایل کوچک سازی ابعاد ترانزیستور پرداخته می شود و در ادامه اثرات کانال کوتاه که به دلیل مقیاس شدن ترانزیستور ایجاد می شود، مورد مطالعه قرار می گیرد و تاثیر مقیاس نمودن ترانزیستور بر منحنی مشخصات آن رسم می گردد.

کلیدواژه ها:

اثرات کانال کوتاه ، ترانزیستور اثر میدان فلز اکسید نیم رسانا ، مقیاس شدن ترانزیستور ، مشخصات جریان ولتاژ

نویسندگان

طاهره رادسر

گروه مهندسی الکترونیک، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد گرمسار، گرمسار، ایران

محمدرضا نوری زاده اردبیلی

گروه مهندسی الکترونیک، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه آزاد اسلامی واحد گرمسار، گرمسار، ایران