تهیه لایه های نازک دی اکسید تیتانیوم به روش رسوب نشانی فاز مایع روی زیرلایه های آلومینایی و بررسی خواص اپتیکی آنها

سال انتشار: 1396
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 872

فایل این مقاله در 12 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISSE18_002

تاریخ نمایه سازی: 2 تیر 1397

چکیده مقاله:

هدف از این مقاله، سنتز لایه های نازک دی اکسید تیتانیوم TiO2 به روش رسوب نشانی فاز مایع LPD روی زیر لایه های اکسید الومینیم آندی و بررسی خواص نوری و ساختاری آن ها می باشد. بدین منظور ابتدا محلول های فراوری شده با غلظت های مختلف 0/05، 0/1، 0/15 مولار از آمونیم هگزا فلیور و تیتانات در آب تهیه شدند. زیر لایه های آلومینایی به مدت 10 ساعت در محلول های فراوری شده به طو رعمودی فرو برده شدند. پس از انجام واکنش های LPD و رسوب نشانی لایه، برای تشکیل TiO2 با ساختار بلورین، نمونه هاا در دمای 500 درجه سانتی گراد به مدت یک ساعت کلسینه شدند. نتایج حاکی از تشکیل لایه های نازک صاف و یکنواخت با ساختار TiO2 آناتاز و ضخامتی در حدود 300 نانومتر بود. خواص اپتیکی لایه های سنتز شده که با استفاده از طیف سنجی نور مریی فرابنفش مشخصه یابی شدند. نشان دادند که جذب نوری در طول موج های کم تر از حدود 315 نانومتر و شکاف انرژی نوری در محدوده 3/14 تا 3/23 الکترون ولت می باشد. همچنین، مشخص شد که با افزایش غلظت محلول فرآوری از 0/05 به 0/1 مولار، موجب افزایش شکاف انرژی افزایش و سپس با افزایش بیش تر غلظت به 0/15 گاف انرژی کاهش می یابد.

کلیدواژه ها:

لایه های نازک TiO2 ، فرایند رسوب نشانی فاز مایع ، زیر لایه های اکسید آلومینیم آندی

نویسندگان

محمدجواد فخاریان قمی

دانشگاه کاشان دانشکده مهندسی گروه مهندسی مواد و متالورژی، کاشان

عباس صادق زاده عطار

دانشگاه کاشان دانشکده مهندسی گروه مهندسی مواد و متالورژی، کاشان