مروری بر طراحی و آزمون سیستم روی تراشه

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 2,764

فایل این مقاله در 5 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ISCEE12_233

تاریخ نمایه سازی: 29 اسفند 1387

چکیده مقاله:

به دلیل پیشرفت های چشم گیر در تکنولوژی نیمه هادی ها، روش های متداول طراحی مدارات مجتمع، دیگر جوابگوی پیچیدگی های طراحی تراشه های نسل آینده نخواهد بود. لذا روش های جدیدی برای مدیریت پیچیدگی های تراشه های کنونی ارائه شده است که مهمترین آنها، روش طراحی سیستم روی تراشه است. در این مقاله ، انگیزه های اصلی طراحی و ساخت یک سیستم بر روی تراشه مطرح شده و چالش ها و پیچیدگی های مهم در زمینه طراحی و آزمون سیستم روی تراشه بررسی خواهد شد.

نویسندگان

بابک آقایی

دانشگاه آزاد اسلامی ملکان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • _ S emiconductor Industry Association, International Technology Roadmap for S ...
  • Y. Zorian, E. J. Marinissen, S. Dey, *Testing Embedded- Core-Based ...
  • R. Saleh, S. Wilton, S. Mirabbasi, A. Hu, M. Greenstreet, ...
  • M. Keating and P. Bricaud, "Reuse methodology manual: for S ...
  • Jin-Fu Li, " Sy S te m/Ne twork-on- Chip Test ...
  • Samiha Mourad, Yervant Zorian, *Principles of testing electronic systems?, John ...
  • E. J. Marinissen, Y. Zorian, *Challenges in Testing Core- Based ...
  • Y. Zorian, S. Dey, M. Rodgers, ،Test of Future System-on- ...
  • Samiha Mourad _ Yervant Zorian _ *Principles of testing electronic ...
  • N. Nagi, ، _ ystem- on-a-Chip Mixed-Signal Test: Issues, Current ...
  • Amir Hosein Sazgarnia, " Design and Simulation of Optimal Model ...
  • Q. Xu, N. Nicolici, ، _ Re S _ urce ...
  • K. Chakrabarty, «'Low-cost modular testing and test resource partitioning for ...
  • نمایش کامل مراجع