اندازه گیری ضخامت لایه های نازک با استفاده از پراش فرنل در بازتاب

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 4,745

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP15_132

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387

چکیده مقاله:

دراین مقاله روش اندازه گیری ضخامت لایه های نازکی که به صورت پله در:آمده باشند با استفاده ازپراش فرنل ازپله دربازتاب مطالعه شده است دراین مطالعه با استفاه ازدوطول موج 532و 633 نانومتر چند ضخامت درگستره چندین نانومتر تا 600 نانومتر اندازه گیری شده است دقت اندازه گیری درحدود 5 نانومتر است این روش باری لایه های با ضخا مت بیش ازطول موج نیزقابل استفاده است انجام روش ساده است وامکان اندازه کیری درزاویه های فرود مختلف دقت و اطمینان ازنتیجه را بطور چشمگیری افزایش می دهد .

نویسندگان

ایمان معدل حقیقی

دانشکده فیزیک دانشگاه تهران

محمد تقی توسلی

دانشکده فیزیک دانشگاه تهران

خسرو حسنی

دانشکده فیزیک دانشگاه تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • لودمیلا اکرتوا، ترجمه هادی سوالونیفیزیک لایه های نازکمرکز نشر دانشگاهی1385[3] ...
  • _ M.Amiri, M.T .Tavassoli, Fresnel Diffraction Fror Phase steps in ...
  • M.T.tavassoli et al, Application of Fresnel Diffraction from Phase objects ...
  • Mashiro Ueda et al _ Real time reasuremment of thickness ...
  • L.I .Mai S sel , Reinhard. Glang , HANDB OOK ...
  • نمایش کامل مراجع