ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

تاثیر آلاییدگی ایندیم بر روی ویژگی های فیزیکی لایه های نازک اکسید روی

محل انتشار: پانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 775

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/65062

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP15_128

تاریخ نمایه سازی: 10 دی 1387

چکیده مقاله:

فیلمهای نازک اکسید روی وغیر آلاینده به ایندیم به روش افشانه پایرولیززانباشته شده اند دراین مقاله بررسی ویژگی ساختاری الکتریکی و اپتیکی ازجمله ثابتهای اپتیکی و باند گاف لایه های غیر آلاییده و آلاییده با ایندیم انجام شده است با آلاییدگی 1% ایندیم رسانش الکتریکی افزایش قابل ملاحظه ای می یابد همچنین بان گاف افزایش می یابد طیفهای فوتولومینسانس لایه های غیر آلاییده با ایندیم مقایسه شد .

کلیدواژه ها:

نویسندگان

فطمه زارع نزاد

آزمایشگاه ماده چگال ، دانشکده علوم پایه گیلان ،

سید محمد روضاتی

گروه فیزیک ، دانشکده علوم پایه گیلان ، رشت

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • C.H. . Kwon, H.K. Hong, D.H. Yun, K. Lee, S.T. ...
  • S. Major, S. Kumar, M. Bhatnagar and K.L. Chopra, Appl. ...
  • M. G.Anbia, M.N. Islam, M. O. HakimJ. Mater. Sci.27 5169(1992) ...
  • S. .G. Chang, Y.K.Su and Y.P. Shei, J . Vac ...
  • H. Kato, M.Sato, A. Miyamoto and Yao, J. Cryst.Growth 237/239 ...
  • _ T. Nakada, Y. Ohkubo and A. Kunioka Jpn.J .Appl.Phys, ...
  • _ K Yoshino, T. Hata, M.Yoneta, T.Kaneko, T.Akari. Phys.St ate.Sol.(c) ...
  • M. .M. Yoshinda, F.P. Delgado, W.E. Lopez, and E.Andrade, Thin ...
  • Powder Diffraction File, Data Card 5-644, 3c PDS ...
  • B. .D. Cullity, Elements of X-Ray Diffraction, second ed., Addison ...
  • S. Ventura, E.G. Biring, J .M .Martinezand ...
  • I. _ C hamb ouleryon Optimization techniques for the stimation ...
  • B. .J. Jin, S.Im and S.Y. Lee, Thin Solid Films ...
  • A. Ortiz, C. Falcony, J.A. Hernandez, M. Garcia and J.C. ...
  • P. .M.r. Kumar, C.S.Kartha, K.P. Vijayakumar, T.Abe, Y. Kashwaba, F. ...
    • نمایش کامل مراجع