ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

بررسی میزان نفوذ روی در نیوبا تلیتیم به کمک آنالیز RBS و تعیین گاف نواری و تراگسیل نور توسط اسپکتروفوتومتری

سال انتشار: 1387
کد COI مقاله: CMC09_001
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 1,074
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

خرید و دانلود فایل مقاله

متن کامل (فول تکست) این مقاله منتشر نشده و یا در سایت موجود نیست و امکان خرید آن فراهم نمی باشد.

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی میزان نفوذ روی در نیوبا تلیتیم به کمک آنالیز RBS و تعیین گاف نواری و تراگسیل نور توسط اسپکتروفوتومتری

لیلا عقلی مقدم - گروه فیزیک، دانشگاه اراک
غلامرضا نبیونی - گروه فیزیک، دانشگاه اراک
اکبر زنده نام - گروه فیزیک، دانشگاه اراک
علی اکبر فراشیانی - گروه مخابرات نوری، مرکز تحقیقات مخابرات ایران، تهران

چکیده مقاله:

در این تحقیق به بررسی عملی نفوذ حرارتی لایه روی انباشتی بر سطح د یالکتریک نیوبا تلیتیم x-cut (به روش کندوپاش مگنترون - DC) پرداخته شده است. هدف، برقراری ارتباط بین مقدار روی نفوذ دهی شده در نیوبا تلیتیم و تغییرات گاف نواری ساختار حاصل است. آنالیز RBS برای بررسی میزان نفوذ روی در نیوبا تلیتیم و آنالیز اسپکتروفوتومتری برای تعیین تراگسیل نور و گاف نواری نمونه ها به کار رفت. نتایج حاصل از طیف RBS تبادل یون های نئوبیم از زیرلایه با یون های روی از لایه سطحی و همچنین افزایش گرادیان غلظت روی با افزایش دمای نفوذ را نشان می دهد. آنالیز اسپکتروفوتومتری نیز در توافق کامل با نتایج RBS، کاهش اندازه گاف نواری نیوبا تلیتیم د یالکتریک اولیه را با افزایش غلظت روی موجود در آن نشان می دهد.

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا CMC09_001 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/64611/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
عقلی مقدم، لیلا و نبیونی، غلامرضا و زنده نام، اکبر و فراشیانی، علی اکبر،1387،بررسی میزان نفوذ روی در نیوبا تلیتیم به کمک آنالیز RBS و تعیین گاف نواری و تراگسیل نور توسط اسپکتروفوتومتری،نهمین کنفرانس ماده چگال ،اهواز،https://civilica.com/doc/64611

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1387، عقلی مقدم، لیلا؛ غلامرضا نبیونی و اکبر زنده نام و علی اکبر فراشیانی)
برای بار دوم به بعد: (1387، عقلی مقدم؛ نبیونی و زنده نام و فراشیانی)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مدیریت اطلاعات پژوهشی

صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

علم سنجی و رتبه بندی مقاله

مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
نوع مرکز: دانشگاه دولتی
تعداد مقالات: 3,382
در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

مقالات مرتبط جدید

به اشتراک گذاری این صفحه

اطلاعات بیشتر درباره COI

COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

پشتیبانی