اثر دمای بازپخت روی خواص الکتریکی، اپتیکی و ساختاری نانوساختارهای ZnO

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,626

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

NAYRC01_016

تاریخ نمایه سازی: 17 مهر 1387

چکیده مقاله:

فیلم های ZnO روی بستره های شیشه ای در دمای اتاق به روش تبخیر پرتو الکترونی رشد داده شده اند. مشخصات الکتریکی، اپتیکی و ساختاری لایه ها نظیر مقاومت ویژه الکتریکی، تراگسیل، گاف انرژی و اندازه ی دانه بعد از باز پخت به دست آمده است. اندازه گیری های XRD نشان می دهد که قله شدت برای راستای ( 002 ) با افزایش دمای بازپخت بیشتر شده و پهنای کامل در نصف شدت بیشینه (FWHM) ، کاهش می یابد که این کیفیت بالای ساختار را نشان می دهد. اندازه گیری های SEM نشان میدهد که اندازه دانه ها با افزایش دمای بازپخت سطوح لایه های ZnO انباشته شده، بیشتر شده که با اندازه گیری های XRD مطابقت دارد.

کلیدواژه ها:

تبخیر پرتو الکترونی- خواص ساختاری- دمای بازپخت- لایه های نازک

نویسندگان

مهدی زادسر

عضو هیآت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد، گروه فیزیک

مینا نقابی

عضو هیآت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد نجف آباد، گروه فیزیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • L.-J. Meng, M.P. Dos Santos, Thin Solid Films 250 (1994) ...
  • N.R. Aghamalyan, I.A. Gambaryan, E.K. Goulanian, R.K. Hovsepyan, R.B. Kostanyan, ...
  • Y. Zhou, P.J. Kelly, A. Postill, et al., Thin Solid ...
  • F.K. Shan, B.C. Shin, S.C. Kim, Y.S. Yu, Journal of ...
  • نمایش کامل مراجع