ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
ناشر تخصصی کنفرانسهای ایران
ورود |عضویت رایگان |راهنمای سایت |عضویت کتابخانه ها
عنوان
مقاله

بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری(100) Ni/Cu/Si حین لایه نشانی و عملیات حرارتی

سال انتشار: 1385
کد COI مقاله: ISSE07_106
زبان مقاله: فارسیمشاهده این مقاله: 856
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

خرید و دانلود فایل مقاله

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این مقاله را که دارای 9 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

مشخصات نویسندگان مقاله بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری(100) Ni/Cu/Si حین لایه نشانی و عملیات حرارتی

رضا رسولی - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف
محمد مهدی احدیان - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف
اعظم ایرجی زاد - دانشکده فیزیک، دانشگاه صنعتی شریف

چکیده مقاله:

در این مقاله انباشت سطحی زیرلایه مس حین لایه نشانی نیکل و نیز در حین عملیات حرارتی در سیستم (100) Ni/Cu/Si مورد بررسی قرار گرفته است . به منظور بررسی سطح در مقیاس نانومتری از روش طیف نگاری XPS استفاده گردید. با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) کیفیت لایه ها و زبری سطح بررسی شد و با اندازه گیری زاویه تماسی قطرات میکرولیتری آب، انرژی سطحی نمونه ها مقایسه گردیدند . نتایج نشان می دهد انباشت سطحی مس حین لایه نشانی با افزایش ضخامت لایه نیکل در محدوده nm4-2 کاهش یافته و در ضخامت بیش از 4nm ، مس روی سطح مشاهده نمی گردد . تحلیل نتایج به روش Tougaard و همچنین استفاده از شدت نسبی قله ها نشان می دهد که مس انباشته شده به صورت یکنواختی با ضخامت تک لایه اتمی روی سطح قرار گرفته است . آزمایش زاویه تماسی مشخص می نماید که با کاهش ضخامت لا یه نیکل، انرژی سطحی نمونه ها کاهش یافته و به انرژی سطحی مس نزدیک می شود . تحلیل Tougaard مشخص می کند که با انجام عملیات حرارتی در محدوده دمایی 185-150 درجه سانتیگراد ، مس انباشته شده افزایش یافته و به صورت جزایر سه بعدی در می آید که این پدیده با نتایج AFM همخوانی دارد.

کد مقاله/لینک ثابت به این مقاله

کد یکتای اختصاصی (COI) این مقاله در پایگاه سیویلیکا ISSE07_106 میباشد و برای لینک دهی به این مقاله می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت مقاله در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/53624/

نحوه استناد به مقاله:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
رسولی، رضا و احدیان، محمد مهدی و ایرجی زاد، اعظم،1385،بررسی جدایش و انباشت سطحی مس در لایه های نانومتری(100) Ni/Cu/Si حین لایه نشانی و عملیات حرارتی،هفتمین سمینار ملی مهندسی سطح و عملیات حرارتی،اصفهان،https://civilica.com/doc/53624

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این مقاله اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1385، رسولی، رضا؛ محمد مهدی احدیان و اعظم ایرجی زاد)
برای بار دوم به بعد: (1385، رسولی؛ احدیان و ایرجی زاد)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :

  • A. Meunier, B. Gilles, M. Verider; Applied Surf. Sci. 2 ...
  • B.K. Kuanr, S. Gokhale, M. Vedpathak, A.V. Kuanrk , G. ...
  • T.H. Westmore, J.E.E. Baglin, V.R. Deline, A.J. Kellock, M.A. Parker, ...
  • L.V. Pourovskii, N.V. S korodumova, Yu.Kh. Vekilov, B. Johansson, I.A. ...
  • Ch. Girardeaux, Zs. Tokei, G. Clugnet, A. Rolland; Applied Surf. ...
  • Zs. Tokei, D.L. Beke, J. Bernardini, A. Rolland, Scripta. Mather. ...
  • Za. Tokei, D.L. Beke, J. Bernardini, A. Rolland; Def. Diff. ...
  • Z. Erdelyi, Ch. Girardeaux, Zs. Tokei, D.L. Beke, Cs. Cserhati, ...
  • M.P. Seah and S.J. Spencer; J. Vac. Sci. Technol. A21(2003) ...
  • C. Vander Marel, M.A. Verheijen, Y. Tamminga. R.H.W. Pijnenburg, N. ...
  • D. Briggs, M.P. Seah (Eds.);، Practical Surface Analyzing'; John Wiley ...
  • S. Tougaard: J. Vac. Sci. Technol. A 21(2003)1081 _ ...
  • مدیریت اطلاعات پژوهشی

    صدور گواهی نمایه سازی | گزارش اشکال مقاله | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این مقاله را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی مقاله

    مشخصات مرکز تولید کننده این مقاله به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 13,919
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    مقالات مرتبط جدید

    به اشتراک گذاری این صفحه

    اطلاعات بیشتر درباره COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    پشتیبانی