Defect Detection in Patterned Fabrics Using Modified Local Binary Patterns

سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: انگلیسی
مشاهده: 2,333

فایل این مقاله در 13 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

این مقاله در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICIKT03_055

تاریخ نمایه سازی: 22 فروردین 1387

چکیده مقاله:

Local Binary Patterns, LBP, is one of the features which has been used for texture classification. In this paper, a method based on using these features is proposed for defect detection in patterned fabrics. In the training stage, at first step LBP operator is applied to an image of defect free fabric, pixel by pixel, and the reference feature vector is computed.Then this image is divided into windows and LBP operator is applied to each of these windows. Based on comparison with the reference feature vector a suitable threshold for defect free windows is found. In the detection stage, a test image is divided into windows and using the threshold, defective windows can be detected. The proposed method is multi resolution and gray scale invariant. Because of its simplicity, online implementation is possible as well.

نویسندگان

Tajeripour

Department of Electrical Engineering, Tarbiat Modarres University, Tehran, Iran.

Sheikhi

Department of Electrical and Electronics Engineering, Shiraz University, Shiraz, Iran.

Kabir

Department of Electrical Engineering, Tarbiat Modarres University, Tehran, Iran.

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • Che-Seung Cho, B yeong-Mook Chung and Moo-Jin Park ، 'Development ...
  • J. W. Roberts, S. D. Rose, G. A. Jullian, G. ...
  • J. Laitinen, *'Image quality in automated visual web inspection, '* ...
  • ] R. W. Conners, C. W. McMillin, K. Lin, and ...
  • E. Young, «Use of line scan cameras and a DSP ...
  • L. Siew, R. M. Hodgson, and E. J. Wood, ،Texture ...
  • S. H. Sheen, H. T. Chien, W. P. Lawrence, and ...
  • L. Dorrity and G. Vachtsevanos _ *ITn-process fabric defect detection ...
  • C. H. Chan and G. Pang, «Fabric defect detection by ...
  • _ Sari-Sarraf and J. S. Goddard, ،Vision systems for on-loom ...
  • A. Kumar and G. Pang, «Fabric defect segmentation using multi- ...
  • I.-S. Tsai, Ch.-H. Lin, and J.-J. Lin, "Applying an artificial ...
  • X. F. Zhang and R. R. Bresee, «Fabric defect detection ...
  • E. J. Wood, *Applying Fourier and associated transforms to pattern ...
  • M. Unser and F. Adle, «Feature extraction and decision procedure ...
  • A. Bodnarova, M. Bennamoun, and K. K. Kubik, «Defect detection ...
  • نمایش کامل مراجع