تأثیر تغییرپذیری فرآیند ساخت در روشهای اجتناب از نویزهمشنوایی در مدارات VLSI

سال انتشار: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,391

فایل این مقاله در 8 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ACCSI12_100

تاریخ نمایه سازی: 23 دی 1386

چکیده مقاله:

با ورود به دورة طراحی نانومتر ی، اجزای مختلف مدار و نیز سیم های اتصا ل دهندة آنها در ف واصل بسیار نزدیکی از یکدیگر جایابی م یشوند و احتمال بروز نویز همشنوایی در سی مهای مجاور بیشتر و بیشتر شده اس ت. از ای ن رو، یک نیاز صریح در استفاده از رو شهای اجتناب از نویز همشنوایی در روند طراحی مداراتVLSI وجود دار د. در دیگر سو کوچک شدن سریع تکنولوژی ساخت ، تغییرپذیری زیادی در پارامترهای طراحی و ساخت ایجاد کرده است که این تغیی رپذیری م یتواند به عدم توانایی پی ش بینی پارامترهای مداری پیش از ساخت آن منجر شو د. در این مقاله با استفاده از یک روش آماری، تأثیر تغییرپذیری فرآیند ساخت بر روی رو شهای اجتناب از نویزهمشنوایی مدل شده اس ت. با استفاده از روش ا رائه شده ، چندین فرم بسته که نشان دهندة چگونگی این تأثیر اس ت، ارائه و ارزیابی شده اس ت. مقایسة نتایج بدست آمده از این مدلسازی و نتایج حاصل از تحلیل مونت کارلو نشان م یدهد که روش پیشنهادی برای مدل کردن این تغییرات بسیار کارآمد عمل می کند.

کلیدواژه ها:

تغییرپذیری فرآیند ساخت ، نویزهمشنوایی ، روش های اجتناب از نویز همشنوایی ، تحلیل آماری

نویسندگان

مهدی سعیدی

دانشجوی دکترا، دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانشگاه صن

مرتضی صاحب الزمانی

دکترا، عضو هیات علمی، دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانش

سعادت پورمظفری

دکترا، عضو هیات علمی، دانشکده مهندسی کامپیوتر و فناوری اطلاعات، دانش

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • دانشگاه شهید بهشتی، دانشکده مهندسی برق و کامپیوتر، تهران، ایران، ...
  • J-T. Kong, "CAD for Nanometer Silicon Design Challenges and Success, ...
  • S. Borkar, T. Karnik, V. De, "Design and Reliability Challenges ...
  • J. A. G. Jess, K. Kalafala, S. R. Naidu, R. ...
  • F. N. Najm, N. Menezes, "Statistical Timing Analysis Based on ...
  • S. Borkar, T. Karnik, S. Narendra, J. Tschanz, A. Keshavarzi, ...
  • J. Tschanz, K. Bowman, V. De, _ Variation- Tolerant Circuits: ...
  • D. Sylvester, and K. Keutzer, "Getting to the Bottom of ...
  • K. L. Shepard, and V. Narayanan, "Noise in Deep Submicron ...
  • M. Saeedi, M. Saheb Zamani, "Crosstalk Reduction during Placement Based ...
  • M. Aghapour, M. Saeedi, M. Saheb Zamani, "Global Routing with ...
  • M. Becer, V. Zolotov, D. Blaauw, R. Panda, I. Hajj, ...
  • J. Cong, _ Z. Pan, P.V. Srinivas, "Improved Crosstalk Modeling ...
  • F. N. Najm, "On the Need for Statistical Timing Analysis, ...
  • Y. Cao, L. T. Clark, "Mapping Statistical Process Variations toward ...
  • A. Agarwal, K. Chopra, D. Blaauw, V. Zolotov, "Circuit Optimization ...
  • A. Devgan, C. Kashyap, "Block-based Static Timing Analysis with Uncertainty, ...
  • D. Sinha, H. Zhou, "A Unified Framework for Statistical Timing ...
  • M. Martina, G. Masera, "A Statistical Model for Estimating the ...
  • R. Kastner, E. Bozorgzadeh, and M. Sarrafzadeh, *Pattern routing: Use ...
  • P. Chen, and K. Keutzer, "Toward True Crosstalk Noise Analysis, ...