ساخت و مشخصه یابی لایه نازک سیلیکن نیترید
محل انتشار: چهارمین همایش ملی مهندسی اپتیک و لیزر ایران
سال انتشار: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 543
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCOLE04_089
تاریخ نمایه سازی: 30 دی 1394
چکیده مقاله:
سیلیکن نیترید به عنو ان یک ماده ی مقاوم در مقابل حرا رت ویژگی های بسیا رخوبی دارد لایه نازک سیلیکن نیتریدآمور ف در دماهای بالا پایدار بو ده، مقاومت الکتریکی بالایی دا رد و نرخ نفو ذ رطوبت درآن کم است دراین پژوهش لایه نازک سیلیکن نیترید با استفاده از کندوپاش به وش RF روی زیر لایه های ژ رمانیم وکوارتز، بدون گرمادهی به زیرلایه تهیه شده است. Si3N4 سرامیکی به عنو ان ماده ی هدف انتخاب شده است. به علاوه، از ترکیبات متفاوت دوگاز ارگون و نیتروژن به عنو ان گاز کندوپاش استفاده شده است و تاثیر آنها روی ویژگی ها و ترکیب لایه های نازک بدست آمده مور د بر سی قرا گر فته است. در نهایت ترکیب و ساختارلایه نازک با استفاده از طیف سنج تبدیل فوریه فروسرخ (FT-IR) و طیف سنج مرئی فرابنفش - (UV-Visible) مشخصه یابی شده اند
کلیدواژه ها:
سیلیکن نیترید ، لایه نشانی کندوپاش RF ، طیف سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز ، طیف سنجی مرئی فرابنفش - ، ساختار ماده ،
نویسندگان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :