مقایسه اثر زیر لایه های Cr , NiAl بر خواص مغناطیسی و ساختار بلوری لایه های نازک مغناطیسی CoCrPt
محل انتشار: دومین همایش دانشجویی فناوری نانو
سال انتشار: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,514
فایل این مقاله در 7 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NANOSC02_292
تاریخ نمایه سازی: 27 دی 1385
چکیده مقاله:
در این مقاله ساختار بلوری زیر لایه های NiAl , Cr با یکدیگر مقایسه گردیده است. تغییرات درصد نیکل در زیر لایه و اثرات آن بر خواص مغناطیسی لایه نازک Co75Cr12Pt112 مورد بررسی قرار گرفت. با افزایش ضخامت زیر لایه NiAl به علت افزایش قدرت تفکیک دانه های مغناطیسی و بهبود سمت گیری محور شش وجهی در صفحه فیلم قدرت وادارندگی افزایش یافت. تاثیر ضخامت لایه نازک مغناطیسی بر روی زیر لایه Cr از جمله موارد دیگر مورد بررسی بود. ریخت شناسی سطح فیلم ها نشان دادند که افزایش ضخامت فیلم خواص مغناطیسی لایه نازک را متاثر می سازد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
محمد الماسی
دانشگاه کاشان
فاطمه یعقوبی شاد
دانشگاه کاشان
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :