مقایسه اثر زیر لایه های Cr , NiAl بر خواص مغناطیسی و ساختار بلوری لایه های نازک مغناطیسی CoCrPt

در این مقاله ساختار بلوری زیر لایه های NiAl , Cr با یکدیگر مقایسه گردیده است. تغییرات درصد نیکل در زیر لایه و اثرات آن بر خواص مغناطیسی لایه نازک Co75Cr12Pt112 مورد بررسی قرار گرفت. با افزایش ضخامت زیر لایه NiAl به علت افزایش قدرت تفکیک دانه های مغناطیسی و بهبود سمت گیری محور شش وجهی در صفحه فیلم قدرت وادارندگی افزایش یافت. تاثیر ضخامت لایه نازک مغناطیسی بر روی زیر لایه Cr از جمله موارد دیگر مورد بررسی بود. ریخت شناسی سطح فیلم ها نشان دادند که افزایش ضخامت فیلم خواص مغناطیسی لایه نازک را متاثر می سازد.

کلیدواژه ها:

زیر لایه ، فیلم مغناطیسی ، وادارندگی مغناطیسی