CIVILICA We Respect the Science
(ناشر تخصصی کنفرانسهای کشور / شماره مجوز انتشارات از وزارت فرهنگ و ارشاد اسلامی: ۸۹۷۱)

مقایسه اثر زیر لایه های Cr , NiAl بر خواص مغناطیسی و ساختار بلوری لایه های نازک مغناطیسی CoCrPt

عنوان مقاله: مقایسه اثر زیر لایه های Cr , NiAl بر خواص مغناطیسی و ساختار بلوری لایه های نازک مغناطیسی CoCrPt
شناسه ملی مقاله: NANOSC02_292
منتشر شده در دومین همایش دانشجویی فناوری نانو در سال 1386
مشخصات نویسندگان مقاله:

محمد الماسی - دانشگاه کاشان
فاطمه یعقوبی شاد - دانشگاه کاشان

خلاصه مقاله:
در این مقاله ساختار بلوری زیر لایه های NiAl , Cr با یکدیگر مقایسه گردیده است. تغییرات درصد نیکل در زیر لایه و اثرات آن بر خواص مغناطیسی لایه نازک Co75Cr12Pt112 مورد بررسی قرار گرفت. با افزایش ضخامت زیر لایه NiAl به علت افزایش قدرت تفکیک دانه های مغناطیسی و بهبود سمت گیری محور شش وجهی در صفحه فیلم قدرت وادارندگی افزایش یافت. تاثیر ضخامت لایه نازک مغناطیسی بر روی زیر لایه Cr از جمله موارد دیگر مورد بررسی بود. ریخت شناسی سطح فیلم ها نشان دادند که افزایش ضخامت فیلم خواص مغناطیسی لایه نازک را متاثر می سازد.

کلمات کلیدی:
زیر لایه ، فیلم مغناطیسی ، وادارندگی مغناطیسی

صفحه اختصاصی مقاله و دریافت فایل کامل: https://civilica.com/doc/23049/