کاهش خطای ناشی از ارتباطات سیستم های VLSI در مقیاس نانو با بکار گیری تکنولوژی لوله های نانو کربن

سال انتشار: 1392
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,178

فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

AISST01_014

تاریخ نمایه سازی: 5 مرداد 1392

چکیده مقاله:

هر چه تکنولوژی VLSI فشردگی بیشتری پیدا می کند، چالش های مهمی در سر راه ساخت، مدل سازی و کارآیی مدارهای مجتمع بوجود می آید. یکی از اصلی ترین مسائل در سر راه پیشبرد پیش بین های قانون مورد بحث ارتباطات داخلی در مقیاس نانو می باشد. ارتباطات داخلی تاثیر گذارتر از ترانزیستور در جریان تکنولوژی می باشد و بر کارایی چیپ ها در آینده غلبه خواهد کرد. در کنار کارآیی های الکتریکی، ویژگی های مکانیکی در مقیاس نانو اهمیت پیدا می کند. سیم ها باید از عهده عکس العمل نشان دادن بر مقابل فشارها بر آمده و به حالت عادی بر گردد. نانو تکنولوژی راه حل های زیادی برای حل مشکلات ارائه می دهد یکی از مهمترین اثرات نانو تکنولوژی ارائه نانو لوله های کربنی می باشد. نانو لوله های کربنی یکی از موارد امیدوار کننده برای جایگزینی ارتباطات داخلی از جنس مس می باشد.آنها تنها ویژگی های انتقال بالستیکی را توسط نیمه رساناها ارائه نمی دهند بلکه همچنین ویژگی مکانیکی بهتری دارند. در این مقاله ما در مورد قابلیت اطمینان داخلی از جنس نانو لوله کربنی و مقایسه با همتای مسی خود تحقیق می کنیم.

نویسندگان

بهزاد لطفی

عضو هیئت علمی موسسه آموزش عالی حکیم نظامی قوچان

امیر هوشنگ صالحی

عضو هیئت علمی موسسه آموزش عالی حکیم نظامی قوچان

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • M. Haykel, k. moselund, D. bouver , 2005, Fault tolerant ...
  • M. Heyken ben jama , 2009, Fabrication And Design of ...
  • Y. Jin, F. Yuan, 2003 , Simulation of elastic properties ...
  • H. Heidari , S. Mirza Kochaky , M. Babai , ...
  • K. Banerjee , N. Srivastava , , 2006 , Are ...
  • A. Coker , , 2008, Performance Analysis Of Fault-tolerat Nanoelectronic ...
  • نمایش کامل مراجع