بررسی طیف جذبی پرتو ایکس نانو لایه های Co/Ru بر زیر لایه Si

سال انتشار: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 768

فایل این مقاله در 10 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMES05_129

تاریخ نمایه سازی: 23 خرداد 1392

چکیده مقاله:

در این مقاله با تاباندن اشعه ایکس به نانو لایه Co/Ru بر روی لایه سیلسیم توسط کد محاسباتی وین، طیف جذبی نانو لایه را مورد بررسی قرار می دهیم . پرتو ایکس به دلیل انرژی زیاد آن، قابلیت دارد که با الکترون های مغزه عنصر مشخصی بتابد و باعث برانگیختگی آن شود. از آنجایی که طیف جذبی پرتو ایکس به طور مستقیم میزان برانگیختکی یک الکترون مغزه به حالت های اشغال نشده را اندازه گیری میکند، می توان با مقایسه طیف با چگالی حالت های الکترونی، ساختار الکترونی حالت های اضغال نشده آن اتم مشخص را به دست آوریم.

کلیدواژه ها:

طیف جذبی اشعه ایکس ، نانو لایه کبالت- روتینیوم

نویسندگان

آمنه فرنود

دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک

زهرا نوربخش

استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک

امیر سید حسن روضاتیان

استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • D. Ckark, and L. George, Applied x-rays , 1995. ...
  • S. Cottenier, "DFT and the family of (L) APW-methods : ...
  • J. P. Perdew, M. Enzerhof, and K. Burke, "Generalized Gradient ...
  • J. J. Rehr, "Theory and calculations of X-ray spectra: XAS, ...
  • P. S chattschneider, Fundamentas of Inelastic Electron Scattering , 1986. ...
  • K. Jorissen, "The ab initio calculation of relativistic electron energy ...
  • نمایش کامل مراجع