بررسی طیف جذبی پرتو ایکس نانو لایه های Co/Ru بر زیر لایه Si

در این مقاله با تاباندن اشعه ایکس به نانو لایه Co/Ru بر روی لایه سیلسیم توسط کد محاسباتی وین، طیف جذبی نانو لایه را مورد بررسی قرار می دهیم . پرتو ایکس به دلیل انرژی زیاد آن، قابلیت دارد که با الکترون های مغزه عنصر مشخصی بتابد و باعث برانگیختگی آن شود. از آنجایی که طیف جذبی پرتو ایکس به طور مستقیم میزان برانگیختکی یک الکترون مغزه به حالت های اشغال نشده را اندازه گیری میکند، می توان با مقایسه طیف با چگالی حالت های الکترونی، ساختار الکترونی حالت های اضغال نشده آن اتم مشخص را به دست آوریم.