بررسی مکانیزم های کنتراست میکروسکوپ الکترونی عبوری ) TEM ( در تصویر برداری از نانو مواد

در میکروسکوپ نوری، معمولاً برهم کنش های بین نور و نمونه نادیده گرفته می شود. کافی است که نور به اندازه لازم از نمونه عبور ویا از سطح نمونه بازتاب نماید تا بتوان تصویر را به آسانی مشاهده نمود. الکترون ها نه تنها قابلیت فراهم آوردن اطلاعات درباره سطوح نانو ذرات را دارند، بلکه در تهیه تصویر از سطح نیز به کار گرفته می شوند و آنها این نقش را در میکروسکوپ های الکترونی بازی می کنند. با این حال الکترون ها در حین عبور از نمونه ممکن است با آن بر هم کنش داشته باشند. اگر شیئی در محل مشخصی قرار گیرد، تصویر آن در محل مشخص دیگری تشکیل می شود که در این محل می توان صفحه نمایش و دوربین را قرار داد و نیازی به تنظیم دقیق این محل وجود ندارد زیرا عمق فوکوس بسیار بزرگ است. اپتیک هندسی برای توجه به بزرگنمایی، عمق میدان و شرائطکانونی یک میکروسکوپ بسیار مفید است اما برای تفسیر تصویر بدست آمده تقریباً بی فایده خواهد بود، لذا باید مکانیزم های کنتراست که می توانند بیانگر این موضوع باشند که چه چیزی در تصویر تیره یا روشن دیده می شود، را مورد بررسی قرار داد

کلیدواژه ها:

نانو ، میکروسکوپ الکترونی عبوری ، مکانیزم های کنتراست