معرفی میکروسکوپ نیروی اتمیAFM

سال انتشار: 1401
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 242

فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IMTC03_159

تاریخ نمایه سازی: 10 آذر 1401

چکیده مقاله:

یکی از اصلیترین تجهیزات شناسایی در مقیاس نانو میکروسکوپهای نیروی اتمی هستند. این میکروسکوپ خواصی از نمونه های مورد آنالیز را به صورت غیرمستقیم با استفاده از سوزنی بسیار تیز که در حالت ایده آل در نوک آن تنها یک اتم قرار دارد را موردبررسی قرار میدهد. میکروسکوپ نیروی اتمی در زمینه های نانو فناوری، الکترونیک، انرژی، فضانوردی کاربرد دارد. به دلیل اینکه هیچ محدودیتی ازلحاظ خواص فیزیکی مواد برای این میکروسکوپ وجود ندارد ازاینرو میتوان در جهت مطالعه انواع مواد رسانا، نارسانا و نیمه رسانا استفاده کرد.. کیفیت تصاویر و میزان تفکیک پذیری بسیار بالای آنها قابل مقایسه با سایر تصاویر است که نشاندهنده ی آنالیز مطلوبتر و دقت بالای تصویربرداری این میکروسکوپ نسبت به دستگاه های دیگر است در این مقاله به معرفی میکروسکوپ نیروی اتمی و اساس کار آن پرداخته میشود.

نویسندگان

سمیرا سلجوقی پبدنی

دانشجوی کارشناسی ارشد، گروه مهندسی شیمی ، دانشکده فنی مهندسی ، دانشگاه محقق اردبیلی ، اردبیل ، ایران

بهروز میرزایی

هیئت علمی گروه آموزشی مهندسی شیمی، دانشکده فنی مهندسی، دانشگاه محقق اردبیلی، اردبیل،ایران