بررسی اثر نویز ضربه ای و نویز حرارتی در آشکارسازهای نوری PIN و APD

هدف از این مقاله بررسی اثر نویز ضربه ای و نویز حرارتی در آشکارسازهای PIN و APD به ازای تغییرات نرخ بیت در بازه های فرضی مشخص می باشد. برای این کار از نرم افزار اپنی سیستم جهت بررسی اثرات نویزهای ضربه ای و حرارتی با نرخ بیتهای مختلف در آشکارسازهای PIN و APD استفاده شد. نتایج بدست آمده از شبیه سازی نشان می دهد که در آشکار ساز PIN نویز حرارتی نسبت به نویز ضربه ای، نرخ خطای بیت (BER) را بیشتر می کند. همچنین با افزایش نرخ بیت نشان داده شد که نویز ضربه ای در این آشکار ساز تاثیر چندانی بر ضریب کیفیت نسبت به نویز حرارتی ندارد. بر خلاف آشکارساز PIN، در فتودیود APD نویز ضربه ای نرخ خطای بیت را افزایش می دهد. همچنین در این آشکارساز عامل کاهنده ی ضریب کیفیت نویز ضربه ای می باشد. در حالت کلی نشان داده شد که در آشکارسازهای PIN نویز حرارتی تاثیر زیادی بر روی نرخ خطای بیت و ضریب کیفیت دارد، و همچنین در آشکارسازهای APD نویز ضربه ای، در نرخ خطای بیت و ضریب کیفیت موثرتر است.

کلیدواژه ها:

آشکارساز PIN ، نویز حرارتی ، نویز ضربه ای ، نرخ خطای بیت ، آشکارساز APD ضریب کیفیت