بررسی وابستگی موبیلیتی به دما و میدان الکتریکی در ترانزیستورهای لایه نازک آلی به کمک شبیه سازی دو بعدی
محل انتشار: سیزهمین کنفرانس دانشجویی مهندسی برق ایران
سال انتشار: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,646
فایل این مقاله در 6 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE13_037
تاریخ نمایه سازی: 14 مرداد 1389
چکیده مقاله:
در سالهای اخیر ترانزیستورهای اثر میدانی به خاطر کاربردهای فراوان شان در الکترونیک آلی مورد توجه بسیاری از محققان قرار گرفته است به منظور درک بهتر و بهینه سازی بازده کارکرد این ادوات شبیه سازی های دقیق و کارآمدی مورد نیاز است در این مقاله ترانزیستورهای اثر میدانی آلی با نیمه هادی آلی پنتاسن شبیه سازی می شود و نتایج شبیه سازی با مقادیر تجربی مقایسه و تحلیل م ی گردد. وابستگی موبیلیتی و ولتاژ آستانه به دما بررسی می شود همچنین اثر میدان الکتریکی بر موبیلیتی ترانزیستورهای آلی به کمک شبیه سازی مورد تحقیق قرار می گیرد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
آمنه بازیار
دانشگاه شهید بهشتی
محمدجواد شریفی
دانشگاه شهید بهشتی
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :