طیف سنجی پراش اشعه ایکس
سال انتشار: 1397
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: فارسی
مشاهده: 4,514
فایل این مقاله در 9 صفحه با فرمت PDF قابل دریافت می باشد
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_NAISL-2-4_003
تاریخ نمایه سازی: 19 آذر 1398
چکیده مقاله:
علم مطالعه رشد، شکل خارجی، ساختار داخلی و خواص فیزیکی کریستال ها را بلورشناسی می گویند. با کشف اشعه X در سال 1895، امکان مطالعه ساختار درونی کریستال ها و ارتباط آن با ساختار بیرونی فراهم شد. از این رو طیف سنجی پراش (تفرق) اشعه X یک تکنیک پرکاربرد برای بررسی خصوصیات کریستال ها می باشد. ناحیه پرتو X در طیف الکترومغناطیس در محدوده بین پرتو گاما (γ) و پرتو فرابنفش قرار دارد. اشعه های X که برای پراش استفاده می شوند، معمولا طول موجی در حدود 5/0 الی 5/2 آنگستروم دارند. بنابراین این روش بر پایهی خاصیت موجی اشعه ایکس استوار است. با استفاده از این ناحیه طیفی می توان اطلاعاتی در مورد عموم کمیت ساختار کریستالی از قبیل ثابت شبکه، هندسه شبکه، تعیین کیفی مواد ناشناس، تعیین فاز کریستال ها، تعیین اندازه کریستال ها، جهت گیری تک کریستال، استرس، تنش، عیوب شبکه وغیره به دست آورد. همچنین طیف سنجی پراش اشعه X به دلیل داشتن تجهیزات ساده و آماده سازی نمونه آسان، روشی پر کاربرد در زمینه های مختلف می باشد. در XRD با تعیین پارامترهای موثر از جمله زاویه براگ، شدت و پهنای پیک ها و اندازه ذرات می توان ترکیبات را شناسایی کرد. در این مقاله ابتدا با اساس کار تکنیک XRD و سپس با اجزا دستگاه XRD آشنا خواهیم شد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
فاطمه خدام
گروه شیمی کاربردی، دانشکده شیمی، دانشگاه تبریز، تبریز، ایران