اثرناخالصی فسفرP برروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک نیمرسانای FTO

سال انتشار: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 264

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

IPC93_240

تاریخ نمایه سازی: 5 آذر 1398

چکیده مقاله:

دراین تحقیق لایه های نازک FTO باناخالصی فسفر به روش اسپری پایرولیزیز برروی بسترهای شییشه ای تهیه شده وتراز ناخالصی فسفربانسبت اتمی [P]/[Sn]=0/1-10 درمحلول اولیه تغییر داده شداثرحضورناخالصی فسفربرروی خواص ساختاری الکتریکی واپتیکی لایه های نازک FTO:P بررسی شدنتایج نشان می دهد که باافزودن ناخالصی فسفرلایه ها دارای ساختاربس بلوری بافازاصلی SnO2 می باشند مقاومت سطحی لایه ها نیزدرنسبت مولی P/Sn= % 1;کمترین مقداررا نشان میدهد با افزایش تراکم ناخالصی شفافیت لایه ها نیز افزایش می یابد که بیشترین شفافیت اپتیکی لایه های FTO باناخالصی P درحدود 60درصد درناحیه مرئی بدست می آید

نویسندگان

الهام مکاری پور

آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان

محمدمهدی باقری محققی

آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان

حسن عظیمی جویباری

آزمایشگاه تحقیقاتی حالت جامد دانشکده فیزیک دانشگاه دامغان