استفاده از روش غیر مخرب طیف سنجی عمر سنج پوزیترون برای عیب یابی مواد مختلف

شناسایی آسیب های مواد بر اثر تابش بخصوص در نیمه هادیها و پلیمرها از مهمترین موضوعات در فناوریهای نوین شناخته میشود. ایجاد آسیبهای ریز در دراز مدت؛ باعث ایجاد شکستگی در پیوند و کاهش مقاومت مواد میشود. برای تخمین آسیب ها لازم است از روشهای غیر مخرب استفاده شود تا بدون تخریب قطعه مقدار آسیب مشخص شود. یکی از روشهای جدید برای ارزیابی مقدار آسیب اندازه گیری مقدار نیمه عمر پوزیترون در ماده با استفاده از طیف بدست آمده از ماده تحت تابش پوزیترون است. در این تحقیق از روش غیر مخرب طیف سنجی عمر سنج پوزیترون برای عیب یابی مواد استفاده شدهاست. ابتدا مواد تحت تابش چشمه رادیم برلیم((Ra-Be با اکتیویته 347 MBq قرار گرفته و سپس طیف سنجی شدهاند. مقایسه طیف قطعات تابش شده و نشده توسط نرم افزار LT_92، نشان میدهد که در ماده تحت تابش به علت ایجاد عیوب ساختاری، نیمه عمر پوزیترون بیشتر شده طیف گستردگی بیشتری پیدا کرده است.

کلیدواژه ها:

روش غیر مخرب ، طیف سنجی ، عمر سنج پوزیترون ، عیب یابی ، مواد