رشد لایه های نازک سولفید روی و بررسی خواص اپتیکی آن به روش سان پل

لایه های نازک سولفید روی با ضخامت های مختلف ( 500 و 800 و 1100 نانو متر) روی زیر لایه شیشه معمولی در دمای اتاق به روش تخیر حرارتی در خلاء تهیه گردید. آنالیزاپتیکی لایه های نازک به روش سان پل حاکی از آن است که با کاهش ضخامت، درصد عبور در طول موج های بین 800-350 نانومتر افزایش می یابد. آنالیزساختاری نشان می دهد که لایه ها در ساختار هگزاگنال ساده چگالیده شده اند و با افزایش ضخامت، شدت قله ( 103 ) افزایش یافته و همچنین قله ( 110 ) در ضخامت های بالاتر ظاهر می شود که این نشان دهنده ی تاثیر ضخامت لایه روی خواص ساختاری است.