تاثیر غلظت نیترات نقره بر تشکیل نانو ذرات نقره در سیستم Ag - SiO2 به روش سل- ژل

در این تحقیق، سیستم لایه نازک Ag - SiO2 با غلظتهای مختلف نقره (0% / 2، 0 / 4 ، 1% / 6 و 8٪) بر سطح زیرلایه soda - lime ساخته شدند. پس از مرحله پخت نمونه ها، بررسی خواص فیزیکی و شیمیایی لایه های نازک سیلیکا (SiO2) حاوی نانوذرات نقره، توسط اندازه گیریهای اپتیکی برای تعیین خواص نوری لایه ها، توپوگرافی و ریزساختار نمونه ها توسط میکروسکوپ نیروی اتمی( AFM و میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)، اندازه گیری دقیق سایز نانوذرات نقره و توزیع آنها در سطح و حجم لایه ها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) انجام شد. بر اساس تحلیل نتایج به دست آمده از روشهای مذکور، بدون انجام عملیات حرارتی مناسب، نانوذرات نقره در غلظتهای خیلی کم نقره (0 /2 ٪ ) و یا خیلی زیاد آن (8٪) تشکیل نمی شوند، بلکه با در نظر گرفتن غلظت اولیه نقره در یک ناحیه میانی این امر صورت می گیرد. در واقع نانوذرات Ag در این غلظتهای حدی در دمای پخت 200°C تشکیل می شود. همچنین بر اساس مشاهدات TEM، حداقل متوسط اندازه ذرات سنتز شده، برای غلظت ٪0 / 2 نقره در حدود nm 4 تعیین گردید.

کلیدواژه ها:

نانو ذرات ، روش نسل - ژل ، لایه نازک2 Ag - Si0