بررسی اثر تغییرات pH برخواص اپتیکی و مورفولوژیکی فیلم های نازک نانوساختار CuO تهیه شده به روش سل - ژل

سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 934

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP16_314

تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388

چکیده مقاله:

در این مقاله فیلمهای نازک CuO به روش سل - ژل، در سه pH روی خواص اپتیکی، مورفولوژیکی مورد مطالعه قرار گرفت. طیف تراگسیل فیلمها توسط طیف سنج UV-Visible اندازه گیری شد. طرح پراش پرتو X متناظر با تشکیل فاز مونوکلینیک CuO می باشد. اندازه متوسط دانه ها به دست آمده از تصاویر SEM در محدوده 43 تا 51 نانومتر می باشد. ثوابت اپتیکی و ضخامت فیلم ها با استفاده ز روش بهینه سازی نامقید به دست آمد. نتایج نشان می دهد که با افزایش pH عبور و گاف نواری فیلم ها کاهش و ضریب شکست، ضریب خاموشی و ضخامت فیلم ها افزایش می یابد.

نویسندگان

سمیه سعادت نیاول

گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان، آزمایشگاه تحقیقاتی ماده چگ

فرهاد اسمعیلی قدسی

گروه فیزیک دانشکده علوم، دانشگاه گیلان، آزمایشگاه تحقیقاتی ماده چگ

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • T. Ghodselahi, M.A. Vesaghi, A. Shafiekhani, A. Baghizadeh, ...
  • C.H. Xu, C.H. Woo, S.Q. Shi, Superlattices Microstruct 36 (2004) ...
  • C.H. Xu, C.H. Woo, S.Q. Shi, Chem. Phys. Lett. 399 ...
  • _ O.A. Yeshchenko, I.M. Dmitruk, A.M. Dmytruk, A.A. Alexeenko, Mater. ...
  • J. M _ s-Martinez, L.A. Garcia-Cerda, R. Ramirez-Bon, _ _ ...
  • _ _ Moretti, M.Mulao ...
  • D. Poelman, F. Smet, . Phys. D. Appl. Phys. 36, ...
  • J.I. Pankove, Optical Processes in semiconductor, Dover, New York, Phy. ...
  • نمایش کامل مراجع