سنتز و مشخصه یابی نانوذرات سیلیکون با روش کندوسوز لیزری
محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,295
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP16_263
تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388
چکیده مقاله:
در این پژوهش نانوذرات سیلیکون به روش کندوسوز لیزری ویفر سیلیکون در محیط دی میتیل سولفواکسید در شدتهای مختلف لیزر پالسی 20ns و طول موج 1064nm ایجاد شده اند. نانوذرات سنتز شده توسط طیف نمایی UV-visible میکروسکوپ عبور الکترونی (TEM) و طیف تبدیل فوریه مادون قرمز (FTIR) مطالعه شده اند. سوق به سمت آبی طیف جذبی با کاهش قطر نانوذرات سیلیکون مشاهده شده است. با کاهش شدت لیزر اندازه نانوذرات از 12 نانومت به 8 نانومتر کاهش می یابد.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
مجید طاهری
پژوهشکده لیزر و اپتیک، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتم
فرشته حاج اسماعیل بیگی
پژوهشکده لیزر و اپتیک، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتم
اسماء السادات معتمدی
پژوهشکده لیزر و اپتیک، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، سازمان انرژی اتم
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :