تکنیک DSPI در ضبط طرح تداخلی تمام نگاشتی و محاسبه میزان تغییر شکل در هر پیکسل
محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 944
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICOPTICP16_062
تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388
چکیده مقاله:
در این مقاله، با استفاده از روش تداخل سنجی طرح اسپکل دیجیتالی (DSPI) طرحهای تداخلی به صورت دیجیتالی ثبت و با انجام پردازش تصویر روی عکس های دیجیتالی گرفته شده میزان تغییر شکل و جابجایی درهر پیکسل محاسبه می شود و سپس با مشتق گیری از توزیع تغییر شکل به دست آمده، توزیع کرنش در روی سطوح به دست می آید.
کلیدواژه ها:
نویسندگان
زهره حریریان
پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای - پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
ناصر پرتوی شبستری
پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای - پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
مریم قشلاقی
پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای - پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
محمدهادی ملکی
پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای - پژوهشکده اپتیک و لیزر، انتهای خیابان کا
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :