ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

تعیین تغییرات نمایه ضریب شکست پیش سازه ی فیبر نوری از طریق اندازه گیری استرس باقی مانده، به کمک نور قطبیده

محل انتشار: شانزدهمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
سال انتشار: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 1,022

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:
https://civilica.com/doc/73585

شناسه ملی سند علمی:

ICOPTICP16_040

تاریخ نمایه سازی: 18 تیر 1388

چکیده مقاله:

در این گزارش با اندازه گیری توزیع تنش باقیمانده ی پیش سازه ی نوری از طریق تحلیل نور قطبیده ی عبور کرده از عرض نمونه توزیع عرضی تغییرات ضریب شکست را در این پیش سازه ی فیبرنوری تعیین نموده ایم. نتایج آزمایش های ما نشان دادند که این تغییر نمایه ی ضریب شکست از مرتبه 3- 10 می باشد.

کلیدواژه ها:

پیش سازه ی فیبر نوری ، تنش ، نمایه ی ضریب شکست ، نور قطبیده

نویسندگان

ارشمید نهال

آزمایشگاه پژوهشی مواد فوتونیکی، دانشکده فیزیک، دانشگاه تهران

مریم علی اکبرگنجی

آزمایشگاه پژوهشی مواد فوتونیکی، دانشکده فیزیک، دانشگاه تهران

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • P. L. Chu, T. W. Whitbread, Appl. Opt. 21, No. ...
  • D. Marcuse, Appl. Opt., 18, No. 1, 9-13 (1979) ...
  • R. A. Betts, F. Lui, T. _ Whitbread, Appl.Opt, 30, ...
  • _ W. Hermann, M. Hutjens, D. U. Wiechert, Appl. Opt., ...
  • Yongwoo Park etal. , Appl. Opt. , 41, No. 1, ...
  • K. W. Raine etal. , Appl. Opt., 38, No. 7, ...
  • Timoshenko and J. N. Goodier: Theory of Elasticity (Mc Graw ...
  • M. Born and E. Wolf: Principal of Optics, (Pergamon Press, ...
  • N. Shibata, K. Jjinguji, M. Kawachi, and T. Edahiro, Appl. ...
    • نمایش کامل مراجع