میکرواستخراج فاز جامد مغناطیسی سریم با جاذب پلیمر نشاندار یونی و اندازه گیری آن با یک حسگر فوتومتری جدید بر اساس بیرنگ کردن نانوذرات نقره

سریم یک عنصر کمیاب در خاک از سری لانتانیدها میباشد. از سریم به طور گسترده در صنایع مختلف از جمله شیشه سازی، کبریتسازی، لامپ های قوس کربنی، سرامیک کاربرد دارد. بنابراین تعیین مقادیر بسیار کم آن از اهمیت به سزایی برخوردار است. در این مطالعه برای اولین بار پلیمر نشاندار یونی سریم سنتز و توانایی آن در میکرواستخراج فاز جامد مغناطیسی سریم از بافتهای مختلف بررسی شد. سپس یک حسگر جدید بر پایه بیرنگ شدن نانوذرات نقره برای تعیین اسپکتروفوتومتری سریم استخراج شده طراحی گردید. بدین منظور، نانوذرات نقره در بافت سل ژل با روش یک مرحله ای مبتنی بر کاهش نقره - نیترات با استفاده از مخلوطی از هیدرازین، آمونیوم کلرید و نیتریک اسید سنتز ، و برای آماده سازی و بررسی سنسور حساس و مقرون به صرفه سریم مبتنی بر پیک رزونانس پلاسمون سطح LSPR نانو ذرات نقره به کار برده شد پلیمر نشاندار یونی مغناطیسی MIIP با انحلال مقادیر استوکیومتری سریم سولفات و لیگاند کیلیت دهنده اکسین در کلروفرم بعنوان حلال پروژن در pH = 9 و در حضور 4 وینیل پیریدین بعنوان منومر، اتیلنگلیکول دی متاکریلات بعنوان اتصال دهنده ی عرضی، - 2 آزوبیسایزوبوتیرونیتریل بعنوان آغازگر - رادیکالی و نانوذره مغناطیسی آهن پوشیده شده با سیلیس بعنوان بستر تهیه گردید. عوامل مهم تاثیرگذار در استخراج سریم بهینه شد. در شرایط بهینه حد تشخیص و فاکتور تشدید بترتیب ppb 63 / 0 و 394 برای سریم بدست آمد. روش برای اندازه گیری سریم در نمونه های حقیقی به کار برده شد

کلیدواژه ها:

سریم ، سل ژل نانوذرات نقره ، رزونانس پلاسمون سطحی ، پلیمر نشاندار یونی مغناطیسی