تاثیر ضخامت لایه بر کندگی لیزری مواد لایه نشانی شده در انرژی های مختلف لیزر

سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 960

متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این مقاله:

شناسه ملی سند علمی:

PHOTONICS01_030

تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1387

چکیده مقاله:

روش طیف سنجی تخلیه لیزری به دلیل قابلیتی که در انجام سریع و بدون تماس آنالیز مواد دارد . در ضخامت سنجی لایه ها به کار میرود . در این مقاله با استفاده از این روش به مطالعهه تجربی نمونه های آلومنیومی لایه نشانی شده با مس به ضخامت های 10 ، 20 ، 30 ، 50 µm پرداخته میشود . در این آزمایشات از هماهنگ چهارم لیزر Nd:YAG در طول موج 266 نانومتر استفاده شده و تاثیر انرژی های مختلف لیزر ، 7 ، 10 ، 14 mJ ، بر فرایند کندگی مورد بررسی قرار میگیرد . آزمایش بر روی نمونه های چند لایه ای نشان میدهد که این روش قادر به تشخیص ضخامت لایه های مختلف در چند لایه ای ها است .

کلیدواژه ها:

ضخامت سنجی - طیف سنجی تخلیه لیزری - کندگی لیزری

نویسندگان

هانیه افخمی اردکانی

تهران - اوین - دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده لیزر و پلاسما

سید حسن توسلی

تهران - اوین - دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده لیزر و پلاسما

مراجع و منابع این مقاله:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :
  • M. P. Mateo, J. M. Vadillo, J. J. Laserna, Irradiance- ...
  • dependent depth profiling of layered raterials using laser- induced plasma ...
  • K. Novotny , T. Vaculovic, M. Galiova' , V. Otruba, ...
  • A. _ Coedo, T. Dorado, I. Padillaa, J. C. Farinas, ...
  • J.P. Singh, S.N. Thakur, Laser- induced breakdown Sp ectroscopy, Elsevier, ...
  • _ H. Balzer, M. Hoehne, R. Noll, V. Sturm, New ...
  • H. Balzer , M. Hoehne, V. Sturm, R. Noll, Online ...
  • L. St-Onge, M. Sabsabi, Towards quantitative depth-profile anualysis using laser-induced ...
  • نمایش کامل مراجع