تاثیر ضخامت لایه بر کندگی لیزری مواد لایه نشانی شده در انرژی های مختلف لیزر
محل انتشار: اولین کنفرانس مهندسی فوتونیک ایران
سال انتشار: 1387
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: فارسی
مشاهده: 960
متن کامل این مقاله منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل مقاله (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- صدور گواهی نمایه سازی
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
PHOTONICS01_030
تاریخ نمایه سازی: 13 دی 1387
چکیده مقاله:
روش طیف سنجی تخلیه لیزری به دلیل قابلیتی که در انجام سریع و بدون تماس آنالیز مواد دارد . در ضخامت سنجی لایه ها به کار میرود . در این مقاله با استفاده از این روش به مطالعهه تجربی نمونه های آلومنیومی لایه نشانی شده با مس به ضخامت های 10 ، 20 ، 30 ، 50 µm پرداخته میشود . در این آزمایشات از هماهنگ چهارم لیزر Nd:YAG در طول موج 266 نانومتر استفاده شده و تاثیر انرژی های مختلف لیزر ، 7 ، 10 ، 14 mJ ، بر فرایند کندگی مورد بررسی قرار میگیرد . آزمایش بر روی نمونه های چند لایه ای نشان میدهد که این روش قادر به تشخیص ضخامت لایه های مختلف در چند لایه ای ها است .
کلیدواژه ها:
ضخامت سنجی - طیف سنجی تخلیه لیزری - کندگی لیزری
نویسندگان
هانیه افخمی اردکانی
تهران - اوین - دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده لیزر و پلاسما
سید حسن توسلی
تهران - اوین - دانشگاه شهید بهشتی - پژوهشکده لیزر و پلاسما
مراجع و منابع این مقاله:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این مقاله را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مقاله لینک شده اند :